[發明專利]電子設備、POS機的跌落損傷應變測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201710224702.1
• 申請日: 2017-04-07
• 公開（公告）號: CN107101794A
• 公開（公告）日: 2017-08-29
• 發明（設計）人: 林培春;劉榮堅
• 申請（專利權）人: 上海匯爾通信息技術有限公司
• 主分類號: G01M7/08
• 分類號: G01M7/08
• 代理公司: 福州市博深專利事務所(普通合伙)35214
• 代理人: 林志崢

技術領域

本發明涉及應變測試領域，尤其涉及一種電子設備、POS機的跌落損傷應變測試裝置及方法。

背景技術

目前電子設備在不同高度跌落后，為了檢查電子設備內部的硬件模塊是否損壞基本是通過驅動電子設備，驅動后進行各個硬件模塊的功能測試，進而判斷硬件模塊是否受損，一旦硬件模塊受損，就會影響其使用壽命，但上述的測試方法存在以下缺點：

1、市場上存在某些芯片，跌落后雖然受到損傷，但并不影響芯片的正常功能，此時就無法通過功能測試去判斷芯片是否損傷；

2、電子設備的跌落損傷是概率性事件，目前沒有量化數據體現跌落損傷的風險高低。

POS機是一種電子設備，在金融支付領域，POS機已經得到普遍的應用，在使用過程中不可避免存在跌落的可能，若跌落，很可能會導致正在支付過程中的交易數據丟失或出錯，給用戶造成不可彌補的損失，因此，有必要提供一種電子設備、POS機的跌落損傷應變測試裝置及方法。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種能夠準確判斷跌落是否受損的電子設備、POS機的跌落損傷應變測試裝置及方法。

為了解決上述技術問題，本發明采用的第一技術方案為：

一種電子設備的跌落損傷應變測試裝置，包括電子設備和用于模擬電子設備跌落過程的試驗機，所述電子設備內設有待測試模塊，還包括：應變片、數據采集卡和處理器；

所述應變片設置在電子設備內且與待測試模塊之間設有固定間隔，用于獲取待測試模塊的應變值；

所述數據采集卡包括采集端和輸出端，所述采集端與應變片連接，用于模擬電子設備跌落過程時，采集應變片獲取到的待測試模塊的應變值；

所述輸出端與處理器連接，所述處理器，用于將輸出端發送的待測試模塊的應變值與預設的待測試模塊對應的應變損傷標稱值對比，若所述應變值大于應變損傷標稱值，則所述待測試模塊損傷風險高；若所述應變值小于應變損傷標稱值，則所述待測試模塊損傷風險低。

本發明采用的第二技術方案為：

一種POS機的跌落損傷應變測試裝置，包括POS機和用于模擬POS機跌落過程的試驗機，所述POS機內設有待測試模塊，還包括：應變片、數據采集卡和處理器；

所述應變片設置在POS機內且與待測試模塊之間設有固定間隔，用于獲取待測試模塊的應變值；

所述數據采集卡包括采集端和輸出端，所述采集端與應變片連接，用于模擬POS機跌落過程時，采集應變片獲取到的待測試模塊的應變值；

所述輸出端與處理器連接，所述處理器，用于將輸出端發送的待測試模塊的應變值與預設的待測試模塊對應的應變損傷標稱值對比，若所述應變值大于應變損傷標稱值，則所述待測試模塊損傷風險高；若所述應變值小于應變損傷標稱值，則所述待測試模塊損傷風險低。

本發明采用的第三技術方案為：

一種POS機的跌落損傷應變測試方法，包括：

當POS機跌落過程時，采集POS機內的待測試模塊的應變值；

將所述應變值與預設的待測試模塊對應的應變損傷標稱值對比，若所述應變值大于應變損傷標稱值，則所述待測試模塊損傷風險高；若所述應變值小于應變損傷標稱值，則所述待測試模塊損傷風險低。本發明的有益效果在于：

本發明提供的一種電子設備、POS機的跌落損傷應變測試裝置及方法，通過在電子設備內的待測試模塊周圍設置應變片，當電子設備在不同高度跌落后，應變片會獲取待測試模塊的應變值，通過數據采集卡將應變值發送至處理器，處理器將應變值與預設的待測試模塊對應的應變損傷標稱值對比，若應變值大于應變損傷標稱值，則說明待測試模塊損傷風險高，則屬于不合格產品，不允許出廠；若應變值小于應變損傷標稱值，則說明所述待測試模塊損傷風險低，則屬于合格產品，允許出廠，從而不僅能夠判斷待測試模塊是否受到損傷，有效評估電子設備的抗跌落能力，并且還能夠提供該電子設備跌落損壞風險高低的量化數據。

上述的電子設備可以是POS機，待測試模塊可以是內部芯片，通過上述的測試裝置及方法能夠判斷POS機內部芯片是否受到損傷，有效評估POS機的抗跌落能力，并能夠提供該POS機跌落損壞風險高低的量化數據。

附圖說明

圖1為本發明的一種電子設備的跌落損傷應變測試裝置的結構示意圖；

圖2為本發明的一種電子設備的跌落損傷應變測試裝置的應變片的分布示意圖；

圖3為本發明的POS機的跌落損傷應變測試方法的步驟流程圖；

標號說明：