[發(fā)明專利]一種消除多通道切換電路影響的兩線測(cè)試裝置及方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710223531.0
• 申請(qǐng)日: 2017-04-07
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108693405A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-10-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫德沖;賈豐鍇;張莉莉;蔡惠華;葛萌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所;中國(guó)運(yùn)載火箭技術(shù)研究院
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 呂巖甲

1.一種消除多通道切換電路影響的兩線測(cè)試裝置，其特征在于：包括第一測(cè)試通道和第二測(cè)試通道，第一測(cè)試通道和第二測(cè)試通道均包括上通道和下通道，四個(gè)通道均設(shè)置有內(nèi)部切換繼電器；第一測(cè)試通道的上通道和下通道上的內(nèi)部切換繼電器均與測(cè)試通道外部接線端接插件的測(cè)試芯點(diǎn)x1連接，第二測(cè)試通道的上通道和下通道上的內(nèi)部切換繼電器均與測(cè)試通道外部接線端接插件的測(cè)試芯點(diǎn)x2連接；被測(cè)標(biāo)準(zhǔn)電阻端接插件的兩個(gè)接線端之間連接被測(cè)標(biāo)準(zhǔn)電阻。

2.一種基于權(quán)利要求1所述消除多通道切換電路影響的兩線測(cè)試裝置的兩線測(cè)試方法，其特征在于：該方法如下：

(a)接通測(cè)試通道外部接線端接插件與被測(cè)標(biāo)準(zhǔn)電阻端接插件，測(cè)試通道外部接線端接插件的測(cè)試芯點(diǎn)x1連接到被測(cè)標(biāo)準(zhǔn)電阻端接插件的接線端y1；測(cè)試通道外部接線端接插件的測(cè)試芯點(diǎn)x2連接到被測(cè)標(biāo)準(zhǔn)電阻端接插件的接線端y2；

(b)接通第一測(cè)試通道的上通道和第二測(cè)試通道的下通道，設(shè)測(cè)試得到的電阻值為R_T12，其公式如下：

R_T12＝r1+Rx+r4 (1)

(c)接通第二測(cè)試通道的上通道和第一測(cè)試通道的下通道，設(shè)測(cè)試得到的電阻值為R_T21，其公式如下：

R_T21＝r3+Rx+r2 (2)

(d)接通第一測(cè)試通道的上通道和下通道，設(shè)測(cè)試得到的電阻值為R_T1，其公式如下：

R_T1＝r1+r2 (3)

(e)接通第二測(cè)試通道的上通道和下通道，設(shè)測(cè)試得到的電阻值為R_T2，其公式如下：

R_T2＝r3+r4 (4)

(f)由公式(1)、公式(2)、公式(3)和公式(4)可得到被測(cè)標(biāo)準(zhǔn)電阻值：

其中，第一測(cè)試通道上通道內(nèi)部切換繼電器的電阻值為r1，第一測(cè)試通道下通道內(nèi)部切換繼電器的電阻值為r2，第二測(cè)試通道上通道內(nèi)部切換繼電器的電阻值為r3，第二測(cè)試通道下通道內(nèi)部切換繼電器的電阻值為r4，被測(cè)標(biāo)準(zhǔn)電阻值為Rx。