[發(fā)明專利]用于確定輻射圖的系統(tǒng)和方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710223458.7
• 申請(qǐng)日: 2017-03-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107677895B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-04-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 亞當(dāng)·坦基倫;亨德里克·巴特科;科比特·羅威爾
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R29/10
• 分類號(hào): G01R29/10
• 代理公司: 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243
• 代理人: 曾賢偉;許靜

1.一種用于基于被提供的測(cè)試信號(hào)來(lái)確定包含多個(gè)天線元件的天線陣列的輻射圖的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：

多個(gè)探針，用于在第一表面和第二表面中測(cè)量所述天線元件在以測(cè)試信號(hào)被驅(qū)動(dòng)時(shí)所發(fā)射的信號(hào)的幅度，或用于將測(cè)試信號(hào)從第一表面和第二表面發(fā)射至所述天線元件，其中所述探針發(fā)射所述測(cè)試信號(hào)的情況下，所述天線元件接收由所述探針發(fā)射的信號(hào)并提供相應(yīng)的測(cè)量到的幅度，其中第一表面到所述天線元件的第一距離小于第二表面到所述天線元件的第二距離，并且其中在所述第一距離處使用的探針的孔徑小于在所述第二距離處使用的探針的孔徑，以及

圖計(jì)算單元，其基于所測(cè)量的幅度來(lái)計(jì)算所述天線陣列的輻射圖。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述測(cè)試信號(hào)在應(yīng)用于所述天線元件時(shí)，驅(qū)動(dòng)所述天線元件發(fā)射靜態(tài)RF信號(hào)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述測(cè)試信號(hào)作為數(shù)字命令信號(hào)提供給所述天線陣列的信號(hào)處理單元。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述測(cè)試信號(hào)作為RF信號(hào)提供用于直接驅(qū)動(dòng)每個(gè)天線元件。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中第一表面到所述天線元件的距離使得所測(cè)量的幅度允許區(qū)分所述天線元件，并且第二表面的距離使得所測(cè)量的幅度不允許區(qū)分所述天線元件。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中第一距離在Δd和兩倍Δd之間，其中Δd是所述天線陣列中天線元件之間的最小距離。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述天線陣列包括天線罩，并且第一距離是所述天線罩的外表面到所述天線陣列的距離。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中在第一距離或第二距離處使用的探針的孔徑分別被限定為第一距離或第二距離中弧段的兩個(gè)端點(diǎn)的距離，所述弧段包括角度

其中λ₀是所述測(cè)試信號(hào)的波長(zhǎng)，并且L_max是圍繞所述天線陣列的最小球體的半徑。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中在第一距離處使用的探針的孔徑被限定為

其中λ₀是所述測(cè)試信號(hào)的波長(zhǎng)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中在第二距離處使用的探針的孔徑被限定為

W_D2≤D₂*tanα，同時(shí)

其中D2是第二距離，λ₀是所述測(cè)試信號(hào)的波長(zhǎng)，并且L_max是圍繞所述天線陣列的最小球體的半徑。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中第一表面和/或第二表面包括球體和/或橢圓體和/或圓柱體和/或平面的至少一部分。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的系統(tǒng)，其中第一表面和/或第二表面包括不同的形狀。

13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其包括機(jī)械結(jié)構(gòu)，所述機(jī)械結(jié)構(gòu)可圍繞第一軸線旋轉(zhuǎn)，并且包括距離第一軸線第一距離處的至少一個(gè)探針以及距離第一軸線第二距離處的至少另一個(gè)探針。

14.一種用于確定包括多個(gè)天線元件的天線陣列的輻射圖的方法，所述天線元件被提供測(cè)試信號(hào)，所述方法包括：

在第一表面和第二表面中利用多個(gè)探針測(cè)量所述天線元件在以測(cè)試信號(hào)被驅(qū)動(dòng)時(shí)所發(fā)射的信號(hào)幅度，或利用所述探針將所述測(cè)試信號(hào)從第一表面和第二表面發(fā)射至天線元件，其中所述探針發(fā)射所述測(cè)試信號(hào)的情況下，所述天線元件接收由所述探針發(fā)射的信號(hào)并提供相應(yīng)的所測(cè)量的幅度，其中第一表面到所述天線元件的第一距離小于第二表面到所述天線元件的第二距離，其中在所述第一距離處使用的探針的孔徑小于在所述第二距離處使用的探針的孔徑，以及

基于所測(cè)量的幅度，計(jì)算所述天線陣列的輻射圖。