[發明專利]繼電保護裝置的壽命檢測裝置及方法

有效

• 申請號: 201710221118.0
• 申請日: 2017-04-06
• 公開（公告）號: CN106950448B
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 習偉;李鵬;姚浩;郭曉斌;蔡田田;徐萬方;徐剛;陳秋榮;蔣新成;胡炯
• 申請（專利權）人: 中國南方電網有限責任公司電網技術研究中心;南方電網科學研究院有限責任公司;北京四方繼保自動化股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R27/26
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 陳金普

1.一種繼電保護裝置的壽命檢測裝置，其特征在于，包括：電源監視模塊、時間測量模塊、數據處理模塊和存儲模塊，其中，

所述電源監視模塊包括測溫模塊和電壓測量模塊，其中，所述測溫模塊設置在所述繼電保護裝置中每組電解電容附近，所述電壓測量模塊與所述繼電保護裝置的電壓輸出端相連；

所述時間測量模塊用于產生時間信息，所述時間信息包括當前時間；

所述存儲模塊用于存儲繼電保護裝置的電氣信息和壽命信息，所述電氣信息包括所述電解電容的溫度以及所述繼電保護裝置的電壓波紋，所述壽命信息包括檢測時間以及繼電保護裝置的剩余壽命；

所述數據處理模塊包括CPU主控芯片，所述CPU主控芯片分別與所述測溫模塊的輸出端、電壓測量模塊的輸出端、時間測量模塊的輸出端以及存儲模塊相連；

所述CPU主控芯片用于獲取測溫模塊輸出的所述電解電容的溫度以及電壓測量模塊輸出的所述繼電保護裝置的電壓波紋，根據繼電保護裝置的上電次數、所述電解電容的溫度以及所述繼電保護裝置的電壓波紋計算所述繼電保護裝置的剩余壽命，讀取所述時間測量模塊產生的當前時間，將該當前時間作為檢測時間，將所述剩余壽命和所述檢測時間寫入所述存儲模塊中；

所述CPU主控芯片還用于：

在根據繼電保護裝置的上電次數、所述電解電容的溫度以及所述繼電保護裝置的電壓波紋計算所述繼電保護裝置的剩余壽命時，讀取繼電保護裝置的上電次數，根據上電次數與所述電解電容的充放電時間常數獲得上電壽命損耗；利用所述電解電容的溫度以及繼電保護裝置的電壓波紋計算所述電解電容的運行壽命損耗；根據所述電解電容的預期壽命與壽命損耗總和的差值確定所述電解電容的剩余壽命，獲得所述繼電保護裝置的剩余壽命，所述預期壽命為所述電解電容在常溫下的使用壽命，所述壽命損耗總和等于所述上電壽命損耗與預設第一修正因子的積加上所述運行壽命損耗與預設第二修正因子的積。

2.根據權利要求1所述的繼電保護裝置的壽命檢測裝置，其特征在于，所述CPU主控芯片還用于在所述繼電保護裝置斷電復位后，從存儲模塊中讀取上一時間保存的壽命信息，如果上一時間保存的檢測時間與當前時間的時間差大于預設時間，則根據上一時間保存的剩余壽命和所述時間差的差值確定當前時間所述繼電保護裝置的剩余壽命，將當前時間作為檢測時間，與當前時間所述繼電保護裝置的剩余壽命一并寫入所述存儲模塊中。

3.根據權利要求1所述的繼電保護裝置的壽命檢測裝置，其特征在于，還包括通信模塊，所述通信模塊與所述CPU主控芯片相連；

所述CPU主控芯片還用于將所述剩余壽命和所述檢測時間通過所述通信模塊發送至操作人員終端或顯示終端。

4.根據權利要求1至3任一所述的繼電保護裝置的壽命檢測裝置，其特征在于，所述測溫模塊包括硅溫度傳感器，所述硅溫度傳感器表貼安裝在每組電解電容對角線上。

5.根據權利要求1至3任一所述的繼電保護裝置的壽命檢測裝置，其特征在于，所述電源監視模塊還包括變壓模塊、端口防護模塊，所述變壓模塊用于將外部輸入的電壓轉換為所述壽命檢測裝置的額定工作電壓，所述端口防護模塊用于為所述壽命檢測裝置提供EMC防護。

6.根據權利要求1至3任一所述的繼電保護裝置的壽命檢測裝置，其特征在于，所述時間測量模塊包括：晶振和RTC芯片，所述晶振與所述RTC芯片相連。