[發明專利]正交壓縮真空態光場產生裝置

在審

• 申請號: 201710219109.8
• 申請日: 2017-04-06
• 公開（公告）號: CN108693675A
• 公開（公告）日: 2018-10-23
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 上海盟云移軟網絡科技股份有限公司
• 主分類號: G02F2/02
• 分類號: G02F2/02;G02F1/39
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提出的正交壓縮真空態光場產生裝置，屬于光場產生技術領域，包括光源、倍頻腔、簡并光學參量振蕩器、模式清潔器和平衡零拍探測裝置，光源提供三路紅外光分別注入倍頻腔、簡并光學參量振蕩器和模式清潔器中，倍頻腔輸出的藍光經過第一壓電陶瓷以保證倍頻腔的穩定運轉后，提供注入簡并光學參量振蕩器的泵浦光，泵浦光注入所述簡并光學參量振蕩器后，通過第二壓電陶瓷的轉換產生真空壓縮光，光源的輸出光通過光電調制器和偏振分光棱鏡后注入模式清潔器，降低額外噪聲后產生本底光注入平衡零拍探測裝置。本發明占用空間小，造價低，易于調節，結構緊湊、穩定度高和可靠性好，具有重要的應用價值。

技術領域

本發明屬于光場產生技術領域，尤其是正交壓縮真空態光場產生裝置。

背景技術

壓縮態光場是一種重要的非經典光場，在許多領域具有重要的應用。尤其是在量子通信方面，兩個單模壓縮態光場通過分束器干涉耦合輸出可構成量子糾纏源。量子糾纏源作為量子信息的核心，可以完成量子離物傳態，量子密集編碼和量子保密通信等許多經典光不可能完成的任務。目前市場上還沒有商用產生壓縮光場的裝置，其主要原因在于產生壓縮態光場的技術要求非常高，而且產生裝置復雜龐大，且由于壓縮度受能級分裂較大的限制，難以獲得高壓縮度光場以滿足實際需要。

發明內容

本發明提供的正交壓縮真空態光場產生裝置，結構緊湊、穩定可靠。

本發明具體采用如下技術方案實現：

一種正交壓縮真空態光場產生裝置，包括光源、倍頻腔、簡并光學參量振蕩器、模式清潔器和平衡零拍探測裝置，所述光源提供三路紅外光分別注入所述倍頻腔、簡并光學參量振蕩器和模式清潔器中，所述倍頻腔輸出的藍光經過第一壓電陶瓷以保證倍頻腔的穩定運轉后，提供注入所述簡并光學參量振蕩器的泵浦光，所述泵浦光注入所述簡并光學參量振蕩器后，通過第二壓電陶瓷的轉換產生真空壓縮光，所述光源的輸出光通過光電調制器和偏振分光棱鏡后注入所述模式清潔器，降低額外噪聲后產生本底光注入所述平衡零拍探測裝置。

本發明提供的光場耦合式時柵傳感結構，其有益效果在于，通過光源和倍頻過程產生藍光并用來泵浦由連續準相位匹配簡并光學參量振蕩器進行參量振蕩過程從而獲得對應的正交壓縮真空態光場。調節泵浦光功率為并搜索簡并光學參量振蕩使得泵浦光共振，利用平衡零拍探測裝置測量輸出的壓縮光，最終在分析光場的正交壓縮。本申請占用空間小，造價低，易于調節，結構緊湊、穩定度高和可靠性好，具有重要的應用價值。

附圖說明

圖1是本發明正交壓縮真空態光場產生裝置的結構示意圖。

圖中，1-光源；2-倍頻腔；21-倍頻腔前腔鏡；22-倍頻腔后腔鏡；3-簡并光學參量振蕩器；31-簡并光學參量振蕩器前腔鏡；32-簡并光學參量振蕩器后腔鏡；4-模式清潔器；5-平衡零拍探測裝置；51-50/50分束器；52-光電探測器；53-減法器；6-光纖；7-第一壓電陶瓷；8-泵浦光；9-壓縮光；10-本底光；11-光電調制器；12-偏振分光棱鏡；13-第二壓電陶瓷。

具體實施方式

為進一步說明各實施例，本發明提供有附圖。這些附圖為本發明揭露內容的一部分，其主要用以說明實施例，并可配合說明書的相關描述來解釋實施例的運作原理。配合參考這些內容，本領域普通技術人員應能理解其他可能的實施方式以及本發明的優點。圖中的組件并未按比例繪制，而類似的組件符號通常用來表示類似的組件。

現結合附圖和具體實施方式對本發明進一步說明。

如圖1所示，本實施例提供的正交壓縮真空態光場產生裝置，包括光源1、倍頻腔2、簡并光學參量振蕩器3、模式清潔器4和平衡零拍探測裝置5。