[發明專利]光隔離器測試系統

在審

• 申請號: 201710211365.2
• 申請日: 2017-03-31
• 公開（公告）號: CN106969905A
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發明（設計）人: 劉勝宇;劉宏亮;楊彥偉;曾建武
• 申請（專利權）人: 深圳市芯思杰智能物聯網技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京友聯知識產權代理事務所(普通合伙)11343
• 代理人: 尚志峰,汪海屏

技術領域

本發明涉及器件測試技術領域，具體而言，涉及光隔離器測試系統。

背景技術

光隔離器是一種只允許單向光通過的無源光器件，是高速長距寬帶光纖網絡的主要器件。光隔離器最主要的光學指標有插入損耗(Insertion Loss，IL)、隔離度(Isolation，ISO)等2個關鍵指標。插入損耗是指光在正向插入光隔離器時引起的光功率降低值，定義為光正向輸出功率與光正向輸入功率的比值，并取10倍的對數值，以分貝(dB)為單位，即插入損耗IL為：

在以上公式中，P_i表示光正向輸入功率，P_o表示光正向輸出功率。

隔離度是表征光隔離器對反向傳輸光的衰減能力，定義為光反向輸出功率與光反向輸入功率的比值，并取10倍的對數值，以分貝(dB)為單位，即隔離度ISO為：

在以上公式中，P_i’表示光反向輸入功率，P_o’表示光反向輸出功率。

基于性能指標的定義，歸納光隔離器的測試原理如圖1所示。即光源102’輸出偏振光依次經過偏振控制器104’、被測光隔離器200’和光功率檢測裝置108’。

如圖2所示，相關技術中的光隔離器測試系統100’包括：光源102’、偏振控制器104’、準直器106’和光功率檢測裝置108’，其中，光功率檢測裝置108’包括光探頭1082’和光功率檢測儀1084’，使用如圖2所示的光隔離器測試系統100’對被測光隔離器200’進行測試的方法如下：

1)調整好光隔離器測試系統100’，待光源102’穩定后記錄光功率值為P_i(或者在光功率檢測儀1084’上面把功率值歸零)，把被測光隔離器200’的入光端朝向準直器106’放置在準直器106’和光探頭1082’之間并且調整好被測光隔離器200’位置使被測光隔離器200’基于光路中間，調整偏振控制器104’以使光功率值達到最大，記錄值為P_o，根據插入損耗IL計算公式計算出IL值(或者光功率檢測儀1084’上面的值即為插入損耗IL值)。

2)調整好光隔離器測試系統100’，待光隔離器測試系統100’的光源102’穩定后記錄光功率值為P_i(或者在光功率檢測儀1084’上面把功率值歸零)，把被測光隔離器200’的出光端朝向準直器106’放置在準直器106’和光探頭1082’之間并且調整好被測光隔離器200’位置使被測光隔離器200’基于光路中間，調整偏振控制器104’以使光功率值達到最大，記錄值為P_o，根據隔離度ISO計算公式計算出ISO值(或者光功率檢測儀1084’上面的值即為隔離度ISO值)。

但是，以上的光隔離器測試系統在測試每個光隔離器時都需要調整偏振控制器，導致了每個光隔離器花費的測試時間比較長，單只測試時間約10s，測試重復性差，測試效率低。

因此，如何提高光隔離器測試系統在測試光隔離器時的測試效率成為亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明正是基于上述問題，提出了一種新的技術方案，可以提高光隔離器測試系統在測試光隔離器時的測試效率。

有鑒于此，本發明的第一方面提出了一種光隔離器測試系統，包括：依次連接的光源、偏振控制器和準直器，以及光功率檢測裝置和設置在所述準直器的輸出端的偏振片，當被測試的光隔離器設置在所述偏振片和所述光功率檢測裝置之間時，所述偏振控制器用于將所述光源輸出的光在所述光隔離器中的傳輸方向和所述光隔離器的偏振方向調節一致，所述準直器用于使所述光源輸出的光最大效率的耦合進入到所述光隔離器中，所述偏振片用于將從所述準直器中出來的光的偏振方向固定，所述光功率檢測裝置用于檢測從所述光隔離器中出來的光的功率。

在該技術方案中，通過在準直器的輸出端設置偏振片，以通過該偏振片將從準直器中出來的光的偏振方向固定，從而確定好被測的光隔離器的入光端的偏振方向，這樣通過調整偏振控制器既可以完成光源穩定的調整，即在測試光隔離器的IL時，光正向輸入功率是固定的，在測試光隔離器的ISO時，光反向輸入功率也是固定的，使得在后續測試其他的光隔離器時，無需再調整偏振控制器，從而提高對光隔離器的測試效率。具體地，該光隔離器測試系統測試每個光隔離器的測試時間大約2秒，測試效率提升5倍，而且測試重復性好。