[發(fā)明專利]指紋配準(zhǔn)方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710210304.4
• 申請日: 2017-03-31
• 公開（公告）號(hào): CN107066961B
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮建江;周杰;李世豪
• 申請（專利權(quán)）人: 清華大學(xué)
• 主分類號(hào): G06K9/00
• 分類號(hào): G06K9/00
• 代理公司: 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張潤

1.一種指紋配準(zhǔn)方法，其特征在于，包括：

獲取待配準(zhǔn)指紋和目標(biāo)指紋；

對(duì)所述待配準(zhǔn)指紋和所述目標(biāo)指紋進(jìn)行特征提取，得到所述待配準(zhǔn)指紋的第一指紋特征和所述目標(biāo)指紋的第二指紋特征；其中，所述第一指紋特征包括第一脊線特征和第一相位特征；所述第二指紋特征中包括第二脊線特征和第二相位特征；

基于所述第一脊線特征和所述第二脊線特征，對(duì)所述待配準(zhǔn)指紋與所述目標(biāo)指紋進(jìn)行粗配準(zhǔn)，得到粗配準(zhǔn)結(jié)果；

獲取所述第一相位特征與所述第二相位特征之間的相位重合區(qū)域的相位差異信息；根據(jù)所述相位差異信息對(duì)所述粗配準(zhǔn)結(jié)果進(jìn)行調(diào)整，得到所述待配準(zhǔn)指紋與所述目標(biāo)指紋的最終配準(zhǔn)結(jié)果；

其中，所述獲取所述第一相位特征相對(duì)于所述第二相位特征的相位差異信息，包括：

根據(jù)所述第一脊線特征和所述第二脊線特征，擬合所述待配準(zhǔn)指紋相對(duì)于所述目標(biāo)指紋的第一變形模型；

利用所述第一變形模型對(duì)所述第一相位特征進(jìn)行變形；

根據(jù)變形后的所述第一相位特征和所述第二相位特征，得到所述第一相位特征與所述第二相位特征之間的相位重合區(qū)域，根據(jù)所述相位重合區(qū)域得到所述相位差異信息。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的指紋配準(zhǔn)方法，其特征在于，所述基于所述第一脊線特征和所述第二脊線特征，對(duì)所述待配準(zhǔn)指紋與所述目標(biāo)指紋進(jìn)行粗配準(zhǔn)，得到粗配準(zhǔn)結(jié)果，包括：

利用所述第一變形模型對(duì)應(yīng)的第一扭曲場，對(duì)所述待配準(zhǔn)指紋進(jìn)行變形；

將變形后的所述待配準(zhǔn)指紋與所述目標(biāo)指紋進(jìn)行粗配準(zhǔn)，得到所述粗配準(zhǔn)結(jié)果。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的指紋配準(zhǔn)方法，其特征在于，當(dāng)指紋的脊線特征包括：指紋的方向場、指紋的周期圖時(shí)，所述第一變形模型為剛性變形模型。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的指紋配準(zhǔn)方法，其特征在于，當(dāng)指紋的脊線特征包括：指紋的方向場、指紋的周期圖以及指紋的細(xì)節(jié)點(diǎn)時(shí)，所述根據(jù)所述第一脊線特征和所述第二脊線特征，擬合所述待配準(zhǔn)指紋相對(duì)于所述目標(biāo)指紋的第一變形模型，包括：

根據(jù)所述第一脊線特征中所述指紋的細(xì)節(jié)點(diǎn)和所述第二脊線特征中所述指紋的細(xì)節(jié)點(diǎn)，獲取所述待配準(zhǔn)指紋與所述目標(biāo)指紋之間的匹配細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì)；

如果所述匹配細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì)的數(shù)量大于或者等于預(yù)設(shè)數(shù)量，則根據(jù)所述匹配細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì)擬合所述第一變形模型，其中，所述第一變形模型為彈性變形模型。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的指紋配準(zhǔn)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一脊線特征中所述指紋的細(xì)節(jié)點(diǎn)和所述第二脊線特征中所述指紋的細(xì)節(jié)點(diǎn)，獲取所述待配準(zhǔn)指紋與所述目標(biāo)指紋之間的匹配細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì)，包括：

根據(jù)所述第一脊線特征中的所述待配準(zhǔn)指紋的細(xì)節(jié)點(diǎn)與所述第二脊線特征中的所述目標(biāo)指紋的細(xì)節(jié)點(diǎn)，構(gòu)建細(xì)節(jié)點(diǎn)描述子；

利用匹配算法對(duì)細(xì)節(jié)點(diǎn)描述子進(jìn)行匹配，得到所述匹配細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì)。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的指紋配準(zhǔn)方法，其特征在于，還包括：

如果所述匹配細(xì)節(jié)點(diǎn)對(duì)的數(shù)量小于預(yù)設(shè)數(shù)量，根據(jù)所述第一脊線特征中的所述待配準(zhǔn)指紋的方向圖和所述待配準(zhǔn)指紋的周期圖以及所述第二脊線特征中的所述目標(biāo)指紋的方向圖和所述目標(biāo)指紋的周期圖，計(jì)算所述待配準(zhǔn)指紋相對(duì)于所述目標(biāo)指紋的最佳旋轉(zhuǎn)平移參數(shù)；

利用所述最佳旋轉(zhuǎn)平移參數(shù)擬合所述第一變形模型，其中，所述第一變形模型為剛性變形模型。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的指紋配準(zhǔn)方法，其特征在于，所述根據(jù)變形后的所述第一相位特征和所述第二相位特征，得到所述第一相位特征與所述第二相位特征之間的相位重合區(qū)域，根據(jù)所述相位重合區(qū)域得到所述相位差異信息，包括：

將變形后的所述第一相位特征與所述第二相位特征進(jìn)行配準(zhǔn)，得到所述第一相位特征與所述第二相位特征之間的相位重合區(qū)域；

將所述相位重合區(qū)域的所述第一相位特征與所述第二相位特征直接相減，得到所述相位重合區(qū)域的原始相位差異；

對(duì)所述相位重合區(qū)域的所述原始相位差異進(jìn)行相位解包裹，得到所述相位重合區(qū)域的相位差異信息。