[發(fā)明專利]一種微波功率管的性能特性測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710209487.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-03-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106932701B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳勇波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都海威華芯科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26 |
| 代理公司: | 成都華風(fēng)專利事務(wù)所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐豐 |
| 地址: | 610029 四川省成都市*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 微波 功率管 性能 特性 測(cè)試 方法 | ||
本發(fā)明涉及射頻微波技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種微波功率管的性能特性測(cè)試方法,包括S1、對(duì)測(cè)試夾具做校準(zhǔn)測(cè)試,得到測(cè)試夾具輸入端和輸出端的傳輸特性;S2、建立測(cè)試夾具與待測(cè)功率管引腳連接處、測(cè)試夾具導(dǎo)線、待測(cè)功率管引腳導(dǎo)線的仿真模型;S3、分別對(duì)三個(gè)仿真模型進(jìn)行電磁場(chǎng)模擬仿真,得到連接處的傳輸特性、測(cè)試夾具導(dǎo)線的傳輸特性及待測(cè)功率管引腳導(dǎo)線的傳輸特性;S4、根據(jù)上述3個(gè)傳輸特性計(jì)算得到不連續(xù)處的傳輸特性;S5、將不連續(xù)處的傳輸特性嵌入到測(cè)試夾具的傳輸特性中,得到測(cè)試夾具輸入端和輸出端的影響因素傳輸特性;S6、對(duì)待測(cè)功率管進(jìn)行S參數(shù)測(cè)試,測(cè)試結(jié)果扣除影響因素傳輸特性后得到待測(cè)功率管的真實(shí)性能特性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于射頻微波測(cè)試領(lǐng)域,具體涉及一種微波功率管的性能特性測(cè)試方法。
背景技術(shù)
在射頻微波頻段,常見(jiàn)的功率管類型有Si LDMOS、GaN HEMT等,射頻微波功率管常被用來(lái)設(shè)計(jì)功率放大器。在設(shè)計(jì)放大器之前,一般需要對(duì)功率管進(jìn)行負(fù)載牽引測(cè)試,找到其最佳工作性能對(duì)應(yīng)的阻抗點(diǎn),從而利用該阻抗點(diǎn)進(jìn)行輸入輸出匹配電路設(shè)計(jì)。
射頻微波功率管一般采用陶瓷法蘭封裝,而且輸出功率較大,很難直接進(jìn)行在片測(cè)試,因此,需要制作專門的測(cè)試夾具。另外,由于功率管的最佳輸入輸出阻抗很小,并且隨著工作頻率的升高進(jìn)一步減小,例如一款GaN HEMT功率管,型號(hào)Cree CGH40010,在3.5GHz時(shí)的最佳輸入阻抗的實(shí)部?jī)H為3.8Ω。如此小的阻抗在史密斯圓圖上的位置已經(jīng)靠近圓圖邊緣,而常用的機(jī)械式阻抗調(diào)諧器(tuner)由于自身能力的限制,在靠近斯密斯圓圖邊緣位置的調(diào)諧精度較差,因此,在制作功率管測(cè)試夾具時(shí),一般需要做阻抗變換,常見(jiàn)的阻抗變換形式為漸變線,可經(jīng)過(guò)優(yōu)化設(shè)計(jì),將測(cè)試系統(tǒng)端口的50Ω特性阻抗變換到待測(cè)件(待測(cè)功率管)端口小于10Ω的特性阻抗,起到將tuner調(diào)諧阻抗的圓心從斯密斯圓圖的中心(50Ω)向靠近待測(cè)功率管最佳阻抗點(diǎn)搬移的作用,從而提高負(fù)載牽引時(shí)的測(cè)試精度。
測(cè)試夾具自身對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響可以通過(guò)去嵌的方式消除,例如在進(jìn)行負(fù)載牽引測(cè)試前,需要對(duì)測(cè)試夾具做校準(zhǔn)測(cè)試,得到夾具輸入端和輸出端的傳輸特性(S參數(shù)),然后將夾具的效應(yīng)從最終的測(cè)試結(jié)果中進(jìn)行去嵌入扣除,從而得到待測(cè)功率管本身的特性。但是,射頻微波功率管法蘭封裝的輸入輸出引腳的寬度是變化的,不同型號(hào)的功率管引腳寬度不同,一般隨著功率管的功率能力增大而變寬。而設(shè)計(jì)的測(cè)試夾具通常是通用的,不可能針對(duì)每種待測(cè)功率管定制一種對(duì)應(yīng)引腳寬度的測(cè)試夾具,因此功率管封裝引腳的寬度與測(cè)試夾具待測(cè)功率管端的導(dǎo)線寬度往往不一致,從而在界面處引入不連續(xù)性;除此之外,測(cè)試夾具的傳輸線一般采用介質(zhì)基板,而功率管芯封裝的傳輸線一般采用陶瓷基板,兩種基板材料的介電常數(shù)、厚度等參數(shù)均不相同,也會(huì)在界面處引入不連續(xù)性。這種界面處的不連續(xù)性將帶來(lái)額外的寄生效應(yīng),而這種寄生效應(yīng)是不能通過(guò)夾具去嵌入的方式消除的,導(dǎo)致待測(cè)功率管測(cè)試結(jié)果中包含了該不連續(xù)處的影響,會(huì)使待測(cè)功率管最終的測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生偏差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種微波功率管的性能特性測(cè)試方法,該方法可以很好地解決待測(cè)功率管最終測(cè)試結(jié)果存在偏差的問(wèn)題。
為達(dá)到上述要求,本發(fā)明采取的技術(shù)方案是:提供一種微波功率管的性能特性測(cè)試方法,包括以下步驟:
S1、對(duì)測(cè)試夾具做校準(zhǔn)測(cè)試,得到測(cè)試夾具輸入端和輸出端的傳輸特性;
S2、采用全波電磁場(chǎng)仿真軟件,建立測(cè)試夾具與待測(cè)功率管引腳連接處的仿真模型,建立測(cè)試夾具導(dǎo)線的仿真模型,建立待測(cè)功率管引腳導(dǎo)線的仿真模型;
S3、分別對(duì)三個(gè)仿真模型進(jìn)行電磁場(chǎng)模擬仿真,得到連接處的傳輸特性、測(cè)試夾具導(dǎo)線的傳輸特性及待測(cè)功率管引腳導(dǎo)線的傳輸特性;
S4、根據(jù)連接處的傳輸特性、測(cè)試夾具導(dǎo)線的傳輸特性及待測(cè)功率管引腳導(dǎo)線的傳輸特性計(jì)算得到不連續(xù)處的傳輸特性;
S5、將不連續(xù)處的傳輸特性嵌入到測(cè)試夾具的傳輸特性中,得到影響因素傳輸特性;
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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