[發明專利]手持式光學標定儀

有效

• 申請號: 201710208736.1
• 申請日: 2017-03-31
• 公開（公告）號: CN107063449B
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發明（設計）人: 孫軍;戚新星;方城
• 申請（專利權）人: 南京五石金傳感技術有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231
• 代理人: 高姍

技術領域

本發明涉及一種用于電弧光保護裝置的現場巡檢設備，尤其涉及一種手持式光學標定儀。

背景技術

當前，電弧光保護裝置(以下簡稱保護裝置)已廣泛應用于電力設備的過流過壓保護，如開關柜等。其在傳統電流檢測技術基礎上，增加了弧光檢測項，當電力設備內部因過流過壓而產生弧光時，保護裝置可依據光學判據，迅速切除設備供電，以達到設備保護目的。

保護裝置的電流特性檢測技術已十分成熟，可采用電流發生器模擬設備過流工況，進而檢測保護裝置的過流保護特性，如過流保護時間、過流保護閾值等。而針對保護裝置光學特性檢測的有效設備較少，尤其缺乏能做現場巡檢用的檢測設備，加之若干年前并無相關的國家或行業標準，這導致了各個生產廠商的保護裝置在光學特性上差異較大，保護時間和保護光強閾值缺乏統一度量。保護裝置現場安裝時，各光學通道上接插的光纖長度及彎曲特點也不一樣，其光學特性也缺乏行之有效的手段來驗明。

隨著新國標《弧光保護裝置技術要求GB/T 14598.302-2016》的正式發布，在保護裝置的第三方型式試驗中，增加了光學特性檢測，所有待檢設備必須滿足：可見光觸發條件為5-20Klux，紫外光觸發條件為1-10mw/cm2。新國標為所有保護裝置的光學特性提供了量化指標和測試依據。

為統一保護裝置的光學特性，使其各通道誤差處于可控范圍內，有必要開發一款體積較小，適于現場巡檢用的手持式光學標定裝置

發明內容

本發明克服現有技術存在的不足，所要解決的技術問題為：提供一種體積較小，適于現場巡檢用的手持式光學標定儀。

為了解決上述技術問題，本發明采用的技術方案為：手持式光學標定儀，包括：殼體，所述殼體上設有輸入按鍵，所述殼體內設有光源、電源和控制電路板，所述輸入按鍵與所述控制電路板電氣連接，所述光源分別與所述電源和所述控制電路板電氣連接；所述殼體上開有孔，在開孔處設有后法蘭端，所述后法蘭端上設有與其配合使用的前法蘭端。

優選地，所述控制電路板上設有光源控制模塊，所述光源控制模塊包括：光電轉換電路、CPU控制器、DA轉換電路、比較器和可控變電阻器；所述光源的光信號輸出端與所述光電轉換電路的輸入端電氣連接，所述光電轉換電路的輸出端與所述比較器的反相輸入端電氣連接；所述比較器的同相輸入端與所述DA轉換電路的輸出端電氣連接，所述DA轉換電路的輸入端與所述CPU控制器的輸出端電氣連接，所述CPU控制器的輸入端與所述輸入按鍵電氣連接；所述比較器的輸出端與所述可控變電阻器的輸入端電氣連接，所述可控變電阻器串接入所述光源的供電回路中，所述可控變電阻器的接地端接地。

優選地，所述光電轉換電路的輸出端還與所述CPU控制器的AD輸入端電氣連接。

優選地，所述電源通過支架固定在所述控制電路板上，所述光源固定在所述支架上；所述光電轉換電路的核心部件為光電管，所述光電管焊接在所述控制電路板上，所述光電管的計量儀器光敏端正向面對所述光源。

優選地，所述殼體上還設有供電開關S1，所述控制電路板上設有電源開關控制模塊，所述電源開關控制模塊包括：PMOS管MOS1、NMOS管MOS2、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電阻R6、電阻R7以及S1；所述PMOS管MOS1的源極與所述電源的輸出端Vi相連，所述電阻R1并聯在所述PMOS管MOS1的源極和柵極之間，所述PMOS管MOS1的柵極通過所述電阻R2與所述NMOS管MOS2的漏極相連，所述NMOS管MOS2的柵極與所述CPU控制器的輸出端A1相連，所述NMOS管MOS2的源極通過所述電阻R3接地；所述PMOS管MOS1的柵極依次通過所述電阻R4、所述供電開關S1和所述電阻R5接地，所述CPU控制器的外部中斷端B1與所述供電開關S1和所述電阻R5之間的連線相連；所述PMOS管MOS1的漏極依次通過所述電阻R6和所述電阻R7接地，所述CPU控制器的AD采樣端C1與所述電阻R6和所述電阻R7之間的連線相連。

優選地，所述電源為鋰電池。

優選地，所述殼體上設有顯示屏，所述顯示屏與所述控制電路板電氣連接。

本發明與現有技術相比具有以下有益效果：