[發明專利]一種針對物體刪除的縫裁剪圖像定位取證方法

有效

• 申請號: 201710205138.9
• 申請日: 2017-03-31
• 公開（公告）號: CN107145887B
• 公開（公告）日: 2019-10-01
• 發明（設計）人: 柯永振;韓蓉;杜玲;郭景
• 申請（專利權）人: 天津工業大學
• 主分類號: G06K9/32
• 分類號: G06K9/32;G06K9/46;G06K9/62
• 代理公司: 北京知舟專利事務所(普通合伙) 11550
• 代理人: 郭韞

1.一種針對物體刪除的縫裁剪圖像定位取證方法，其特征在于：所述方法包括：

(1)對待檢測圖像進行塊效應網格提取，獲得待檢測圖像的塊效應網格圖G；

(2)對所述塊效應網格圖G進行特征提取，獲得特征；

(3)利用無監督聚類方法對所述特征進行分類，獲得分類標記結果圖；

(4)根據分類標記結果圖進行定位檢測；

所述步驟(4)是這樣實現的：

如果在分類標記結果圖上能夠分離出左側區域L、右側區域R和中間區域M，且中間區域M呈兩個漏斗型結構，且兩個漏斗型結構的頸部對接，則判定該待檢測圖像經過物體刪除，并且中間區域M的兩個漏斗型結構的對接處即為被刪除的物體的位置；

如果在分類標記結果圖上不能分離出左側區域L、右側區域R和中間區域M，或者能夠分離出左側區域L、右側區域R和中間區域M，但是中間區域M不呈頸部對接的兩個漏斗型結構，則判定該待檢測圖像沒有經過物體刪除。

2.根據權利要求1所述的針對物體刪除的縫裁剪圖像定位取證方法，其特征在于：所述步驟(2)是這樣實現的：

對于塊效應網格圖G中的每一個8*8的塊A＝[a]_8*8，使用下式獲得縱向累加序列B：

對縱向累加序列B進行降序排列，得到降序后的集合C及對應的坐標Index：

[C，Index]＝sort(B，′deScend′)

其中，sort為排序操作，‘descend’表示降序，C為降序后的序列集合，Index為每個序列值在縱向累加序列B中對應的索引坐標；

提取縱向累加序列B的最大值f1、次大值f2：

f1＝c₁，c_i∈C|i∈{1，2，...，8}

f2＝c₂，c_i∈C|i∈{1，2，...，8}

提取縱向累加序列B的最大值對應的坐標f4、次大值對應的坐標f5：

f4＝index₁，index_i∈Index|i∈{1，2，...，8}

f5＝index₂，index_i∈Index|i∈{1，2，...，8}

提取縱向累加序列B的最大值與次大值之和與全部值之和的比值特征f7：

提取縱向累加序列B的標準差特征f9：

其中，

3.根據權利要求2所述的針對物體刪除的縫裁剪圖像定位取證方法，其特征在于：所述步驟(3)是這樣實現的：

將最大值f1、次大值f2、最大值對應的坐標f4、次大值對應的坐標f5、比值特征f7、標準差特征f9作為輸入，利用無監督聚類方法獲得分類標記結果，并將分類標記結果顯示出來，得到分類標記結果圖。

4.根據權利要求2所述的針對物體刪除的縫裁剪圖像定位取證方法，其特征在于：所述步驟(2)進一步包括：

提取縱向累加序列B的最大值f1與最小值f1的差值特征f3：

f3＝f1-f2；

提取最大值對應的坐標f4、次大值對應的坐標f5這兩個坐標差特征f6：

f6＝|f4-f5|；

提取縱向累加序列B的均值特征f8：

提取塊效應網格圖G的BAG偏移特征f10：

其中，函數Max[A{}]和Min[A{}]分別返回集合A{}的最大值和最小值。

5.根據權利要求4所述的針對物體刪除的縫裁剪圖像定位取證方法，其特征在于：所述步驟(3)是這樣實現的：

將最大值f1、次大值f2、差值特征f3、最大值對應的坐標f4、次大值對應的坐標f5、坐標差特征f6、比值特征f7、均值特征f8、標準差特征f9和BAG偏移特征f10作為輸入，利用無監督聚類方法獲得分類標記結果，并將分類標記結果顯示出來，得到分類標記結果圖。

6.根據權利要求3或5所述的針對物體刪除的縫裁剪圖像定位取證方法，其特征在于：所述無監督聚類方法采用3分類的K-Means聚類算法。