[發明專利]基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺

有效

• 申請號: 201710202016.4
• 申請日: 2017-03-30
• 公開（公告）號: CN107063037B
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發明（設計）人: 曹茂柏;申秀東;邱全;天玉會;馮波;劉宇翼
• 申請（專利權）人: 淮陰工學院
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 淮安市科文知識產權事務所 32223
• 代理人: 謝觀素

1.基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺，包括直尺（1）和測微尺滑動塊（2），直尺正側面以尺頭端為零點向尺尾端設置刻度線（11），直尺底邊中段位置設有測定點旋鈕A（9），測微尺滑動塊（2）卡裝在直尺（1）上，并沿直尺（1）滑動，測微尺滑動塊（2）表面設置測微分劃線（21），其特征在于：測微尺滑動塊（2）上方豎直連接覘板（3），覘板（3）上開孔，覘板（3）正表面以孔中心為中心繪制倒等腰三角形（31）；孔的前側安裝凸透鏡組（4），所述凸透鏡組（4）包括固定安裝在覘板（3）上的底座（41），與底座（41）螺紋連接的凸透鏡筒（42），凸透鏡筒（42）前端的凸透鏡片（43）為單片凸透鏡片或雙片凸透鏡片，單片凸透鏡片和雙片凸透鏡片可替換使用；孔的后側安裝玻璃板（5），玻璃板（5）內表面設有豎絲線或十字絲線（6）， 玻璃板（5）內表面位于凸透鏡片一倍焦距以內且逼近一倍焦距位置。

2.根據權利要求1所述的基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺，其特征在于：玻璃板上的絲線（6）在覘板上向外延伸。

3.根據權利要求1所述的基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺，其特征在于：覘板（3）正表面上部繪制豎向等分格（32）。

4.根據權利要求1所述的基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺，其特征在于：絲線（6）寬大于等于1.0mm，凸透鏡組（4）放大倍數2~20。

5.根據權利要求1所述的基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺，其特征在于：所述測微分劃線（21）的刻度長9mm，分10格。

6.根據權利要求1所述的基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺，其特征在于：測微尺滑動塊（2）連接微調絲杠（7），微調絲杠（7）連接鎖固件（8），鎖固件（8）卡裝在直尺（1）上，通過螺釘旋緊鎖定。

7.根據權利要求1所述的基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺，其特征在于：所述直尺（1）底邊上測定點旋鈕A（9）靠向尺尾端一側間隔設有調平旋鈕B（12），直尺（1）上設有水準器（10）。

8.根據權利要求1所述的基于視準線法測定水平位移的亞毫米精度尺，其特征在于：直尺（1）反側面以尺頭端為零點向尺尾端設置刻度線（11），測微尺滑動塊（2）表面以絲線下延線為零點標志線（22），向左右兩邊分別設置測微分劃線（21）。