[發(fā)明專利]一種金屬磁環(huán)小電感檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710201674.1 | 申請日: | 2017-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN107102212A | 公開(公告)日: | 2017-08-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馬峻;薛松 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州亞思科精密數(shù)控有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26;G01R1/04 |
| 代理公司: | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司32200 | 代理人: | 石艷紅 |
| 地址: | 215000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 金屬 磁環(huán)小 電感 檢測 方法 | ||
1.一種金屬磁環(huán)小電感檢測方法,其特征在于:包括以下步驟:
步驟1,標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)電感測試:標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)套設(shè)在位于絕緣蓋和金屬臺之間的測試針的圓柱部上,纏繞在標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)上的金屬線與電感測試儀相連接,上金屬蓋蓋合在下金屬環(huán)上;此時,電感測試儀顯示電感讀數(shù)為初始電感;
步驟2,待測磁環(huán)放置:上金屬蓋高度上升,將待測磁環(huán)套裝在測試針的圓柱部外周并放置在絕緣蓋上;
步驟3,上金屬蓋高度下降:上金屬蓋在升降支架的帶動下,高度下降,使上金屬蓋上的金屬導(dǎo)向套筒套裝在測試針的外周;
步驟4,上金屬蓋與測試針及下金屬環(huán)之間的配合壓力測試:金屬導(dǎo)向套筒套裝在測試針外周的指定位置后,上金屬蓋高度繼續(xù)下降,旋轉(zhuǎn)盤開始在電機的驅(qū)動下轉(zhuǎn)動,電流互感器將對電機的回路電流進行檢測;上金屬蓋與測試針及下金屬環(huán)之間的配合壓力與電機的回路電流呈線性關(guān)系,上金屬蓋與測試針及下金屬環(huán)之間的配合壓力大小的改變將引起回路電流的變化;
步驟5,待測磁環(huán)電感測試:當(dāng)步驟4中的電流互感器所檢測的電機回路電流在設(shè)定范圍內(nèi)時,升降支架高度停止下降,將此時電感測試儀上的穩(wěn)定電感讀數(shù)減去步驟1中的初始電感即為待測磁環(huán)電感。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬磁環(huán)小電感檢測方法,其特征在于:所述步驟1中,纏繞在標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)上的金屬線從金屬臺中穿出后與電感測試儀相連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬磁環(huán)小電感檢測方法,其特征在于:所述步驟4中,金屬導(dǎo)向套筒套裝在測試針外周的指定位置,通過設(shè)置在升降支架上的位移傳感器進行檢測控制。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬磁環(huán)小電感檢測方法,其特征在于:所述標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)與測試針的圓柱部之間設(shè)置有絕緣填充物。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬磁環(huán)小電感檢測方法,其特征在于:所述下金屬環(huán)的上表面設(shè)置有與上金屬蓋下表面相配合的環(huán)形凹槽。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州亞思科精密數(shù)控有限公司,未經(jīng)蘇州亞思科精密數(shù)控有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710201674.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類





