[發(fā)明專利]外形測(cè)量方法、外形測(cè)量設(shè)備及形變檢測(cè)設(shè)備

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710201618.8
• 申請(qǐng)日: 2017-03-30
• 公開（公告）號(hào): CN108613636A
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李岳龍;林伯聰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 由田新技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/25
• 分類號(hào): G01B11/25;G01B11/24
• 代理公司: 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 馬雯雯;臧建明

1.一種外形測(cè)量方法，用以測(cè)量一待測(cè)物的外型輪廓，其特征在于，包括：

提供一光源、一透光投影膜及一圖像獲取裝置，其中所述透光投影膜位于所述光源與所述圖像獲取裝置之間；

置放所述待測(cè)物在所述光源與所述透光投影膜之間，并通過所述光源提供一光束至所述透光投影膜，以在所述透光投影膜上形成所述待側(cè)物品的一待測(cè)物投影；

通過所述圖像獲取裝置獲取所述待測(cè)物投影的圖像，以獲得所述待測(cè)物投影的一投影尺寸；以及

依據(jù)所述待測(cè)物投影的所述投影尺寸計(jì)算出所述待測(cè)物的一測(cè)量尺寸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，計(jì)算出所述待測(cè)物的所述測(cè)量尺寸的步驟包括：

通過所述待測(cè)物投影的所述投影尺寸及一校正參數(shù)，計(jì)算出所述待測(cè)物的所述測(cè)量尺寸。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，所述校正參數(shù)是由下列步驟所獲得，包括：

置放一標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物在所述光源與所述透光投影膜之間，其中所述標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物具有一標(biāo)準(zhǔn)尺寸；

通過所述光源提供所述光束至所述透光投影膜，以在所述透光投影膜上形成一標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物投影；

通過所述圖像獲取裝置獲取所述標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物投影的圖像，以獲得所述標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物投影的所述投影尺寸；以及

比較所述標(biāo)準(zhǔn)尺寸與所述標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物投影的所述投影尺寸，以獲得所述校正參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，獲得所述標(biāo)準(zhǔn)尺寸的步驟包括：

通過所述圖像獲取裝置獲取一刻度尺的圖像，以獲得所述圖像獲取裝置的單一像素的尺寸；以及

依據(jù)所述圖像獲取裝置所獲取的所述標(biāo)準(zhǔn)待測(cè)物投影的圖像所對(duì)應(yīng)的像素的數(shù)量，計(jì)算出所述標(biāo)準(zhǔn)尺寸。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，獲得所述待測(cè)物投影的所述投影尺寸的步驟包括：

通過所述圖像獲取裝置獲取一刻度尺的圖像，以獲得所述圖像獲取裝置的單一像素的尺寸；以及

依據(jù)所述圖像獲取裝置所獲取的所述待測(cè)物投影的圖像所對(duì)應(yīng)的像素的數(shù)量，計(jì)算出所述待測(cè)物投影的所述投影尺寸。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，包括通過一圖像分析模塊依據(jù)所述待測(cè)物的所述測(cè)量尺寸分析所述待測(cè)物的形變程度。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，所述待測(cè)物為球狀物體，分析所述待測(cè)物的形變程度的步驟包括依據(jù)所述待測(cè)物的所述測(cè)量尺寸分析所述待測(cè)物的真圓度。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，包括在通過所述光源提供所述光束的同時(shí)，通過一驅(qū)動(dòng)單元驅(qū)動(dòng)所述待測(cè)物旋轉(zhuǎn)。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，驅(qū)動(dòng)所述待測(cè)物旋轉(zhuǎn)的步驟包括驅(qū)動(dòng)所述待測(cè)物以平行于所述透光投影膜的一轉(zhuǎn)動(dòng)軸線為軸旋轉(zhuǎn)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外形測(cè)量方法，其特征在于，通過所述光源提供所述光束的步驟包括通過所述光源提供具有指向性的所述光束。

11.一種外形測(cè)量裝置，用以測(cè)量一待測(cè)物的外型輪廓，其特征在于，包括：

一光源，提供一光束至所述待測(cè)物；

一透光投影膜，使投射至所述待測(cè)物的所述光束，在所述透光投影膜的一側(cè)上形成一待測(cè)物投影；

一驅(qū)動(dòng)單元，其中所述驅(qū)動(dòng)單元配置于一待測(cè)物置放區(qū)，且適于驅(qū)動(dòng)所述待測(cè)物；以及

一圖像獲取裝置，位于所述透光投影膜的另一側(cè)，適于獲取所述待測(cè)物投影的圖像，以獲得所述待測(cè)物投影的一投影尺寸。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的外形測(cè)量裝置，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)單元適于驅(qū)動(dòng)所述待測(cè)物以平行于所述透光投影膜的一轉(zhuǎn)動(dòng)軸線為軸旋轉(zhuǎn)。