[發明專利]一種參數調整方法及電子設備

有效

• 申請號: 201710198850.0
• 申請日: 2017-03-29
• 公開（公告）號: CN107168569B
• 公開（公告）日: 2020-07-24
• 發明（設計）人: 周浩強;顧書露;王元成
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/042
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 蔣雅潔;李梅香

1.一種參數調整方法，其特征在于，所述方法包括：

電子設備檢測到目標指令，基于所述目標指令檢測得到所述電子設備當前投射出的第一投影平面與當前發射的用于識別用戶操作的第一檢測平面之間的第一相對位置關系；

將所述第一相對位置關系與預設相對位置關系進行比對；其中，所述預設相對位置關系表征所述電子設備投射出的標準投影平面與所述電子設備發射的用于識別用戶操作的標準檢測平面之間的相對位置關系；

檢測到表征所述第一相對位置關系與預設相對位置關系不匹配的比對結果，對所述預設相對位置關系進行調整，使調整后的所述預設相對位置關系與所述第一相對位置關系相匹配，以便于所述電子設備基于調整后的預設相對位置關系響應利用所述第一檢測平面所檢測到的實施于所述第一投影平面的用戶操作。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

檢測到所述電子設備從非工作狀態變化到工作狀態時，生成目標指令；或者，

檢測到所述電子設備的位置發生變化時，生成目標指令。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述電子設備投射出的至少三個第一投射點的坐標信息；

根據所述至少三個第一投射點的坐標信息確定出所述電子設備投射出的第一投影平面，檢測所述第一投影平面是否與所述標準投影平面重合；

檢測得到表征所述第一投影平面與所述標準投影平面不重合的檢測結果，基于檢測結果生成表征所述第一相對位置關系與所述預設相對位置關系不匹配的比對結果。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述檢測所述第一投影平面是否與所述標準投影平面重合，包括：

確定所述電子設備發射的第一檢測平面與所述標準檢測平面重合時，檢測所述第一投影平面是否與所述標準投影平面重合。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述電子設備投射出的至少一個第二投射點的坐標信息；

基于所述至少一個第二投射點的坐標信息，判斷所述第二投射點是否落于所述第一投影平面中；

至少根據表征所述第二投射點未落于所述第一投影平面中的判斷結果生成表征所述第一相對位置關系與所述預設相對位置關系不匹配的比對結果。

6.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：

投影裝置，用于投射第一投影平面；

傳感器，用于發射識別用戶操作的第一檢測平面；

處理器，用于檢測到目標指令，基于所述目標指令檢測得到當前投射出的第一投影平面與當前發射的用于識別用戶操作的第一檢測平面之間的第一相對位置關系；將所述第一相對位置關系與預設相對位置關系進行比對；其中，所述預設相對位置關系表征所述電子設備投射出的標準投影平面與所述電子設備發射的用于識別用戶操作的標準檢測平面之間的相對位置關系；還用于檢測到表征所述第一相對位置關系與預設相對位置關系不匹配的比對結果，對所述預設相對位置關系進行調整，使調整后的所述預設相對位置關系與所述第一相對位置關系相匹配，以便于所述電子設備基于調整后的預設相對位置關系響應利用所述第一檢測平面所檢測到的實施于所述第一投影平面的用戶操作。

7.根據權利要求6所述的電子設備，其特征在于，所述處理器，還用于檢測到所述電子設備從非工作狀態變化到工作狀態時，生成目標指令；或者，檢測到所述電子設備的位置發生變化時，生成目標指令。

8.根據權利要求6或7所述的電子設備，其特征在于，所述處理器，還用于獲取投射出的至少三個第一投射點的坐標信息；根據所述至少三個第一投射點的坐標信息確定出所述電子設備投射出的第一投影平面，檢測所述第一投影平面是否與所述標準投影平面重合；檢測得到表征所述第一投影平面與所述標準投影平面不重合的檢測結果，基于檢測結果生成表征所述第一相對位置關系與所述預設相對位置關系不匹配的比對結果。