[發明專利]電容屏測試裝置

在審

• 申請號: 201710192221.7
• 申請日: 2017-03-28
• 公開（公告）號: CN107064705A
• 公開（公告）日: 2017-08-18
• 發明（設計）人: 王乾
• 申請（專利權）人: 深圳市駿達光電股份有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01
• 代理公司: 深圳眾鼎專利商標代理事務所(普通合伙)44325
• 代理人: 譚果林

技術領域

本發明涉及測試技術領域，特別涉及一種電容屏測試裝置。

背景技術

隨著電子技術的不斷發展，電子產品正不斷豐富著我們的生活，電容屏作為大多數電子產品的重要部件，其好壞關系著產品本身的性能及質量問題。目前大多采用測試機構及與電容屏相匹配的測試治具，來對電容屏進行功能測試。現階段對電容屏的功能測試中，通常是由測試人員手動將電容屏和測試機構的對應PIN端插接在一起而進行測試，并且在測試完成后通常也是由測試人員使用標記筆在電容屏上作相應的標記以達到區分良品和不良品的目的。然而這樣的操作方式一方面成本較高、效率較低，另一方面還易發生疏漏，從而導致電容屏漏標記、漏檢的概率較高。

基于此，一種能在用于對電容屏進行功能檢測并能進行標記作業的電容屏測試裝置的開發很有必要。

發明內容

為了克服上述現有技術的不足，本發明提供了一種兼具測試與標記功能的電容屏測試裝置。

為了解決上述技術問題，本發明的電容屏測試裝置采用的技術方案是：

電容屏測試裝置，包括：

控制系統，所述控制系統至少具有第一接口模塊和第二接口模塊；

測試機構，所述測試機構連接于所述第一接口模塊與電容屏之間，用于根據所述控制系統產生的控制信號對所述電容屏進行測試作業并能在測試作業完成后向所述第一接口模塊發出反饋信號；

自動標記機構，所述自動標記機構包括驅動單元和標記工具，所述驅動單元與所述第二接口模塊相連并能根據所述控制系統接收到的所述反饋信號驅動所述標記工具對所述電容屏進行標記作業。

進一步的，進行所述測試作業時，所述控制系統產生的控制信號由所述第一接口模塊以第一電平信號發送至所述測試機構；所述測試作業完成后，所述測試機構發出的反饋信號以與所述第一電平信號相異的第二電平信號發送至所述第一接口模塊；所述控制系統設有用于檢測所述第一電平信號和第二電平信號之間的電平變化或跳變邊沿的檢測模塊。

進一步的，所述控制系統還設有時間控制模塊，所述時間控制模塊與所述驅動單元相連以在所述標記作業完成后控制所述驅動單元關閉。

進一步的，所述驅動單元至少包括電機及由所述電機驅動的升降結構。

進一步的，所述自動標記機構還包括用于支撐所述電機和所述升降結構的支架組件，所述升降結構與所述支架組件滑動配合。

進一步的，所述升降結構還連接有限位開關，所述支架組件至少在與標記工具與電容屏能接觸的對應位置設有能與所述限位開關相配合的觸發結構，所述限位開關在與所述觸發結構相接觸時被觸發而使所述升降結構相對于所述支架組件停止下降。

進一步的，所述升降結構與所述標記工具之間通過機械臂相連，所述機械臂包括與所述升降機構相連的本體及夾持機構，所述夾持機構包括對稱設于所述本體上的第一夾持臂和第二夾持臂，所述第一夾持臂與所述第二夾持臂之間具有用于夾持所述標記工具的約束空間。

進一步的，所述支架組件包括垂直設于所述電容屏的安裝平臺上的立柱，所述第一夾持臂與所述第二夾持臂之間的所述約束空間平行于所述立柱以使所述夾持機構兼作防傾斜夾持機構。

進一步的，所述第一夾持臂和所述第二夾持臂內側分別設有防滑結構。

進一步的，所述控制系統包括單片機。

基于上述技術方案，本發明相對于現有技術至少具有以下有益效果：

本發明的電容屏測試裝置，結構簡單，兼具測試功能和標記功能，利用控制系統、測試機構、驅動單元之間的信號傳遞，能方便控制標記工具在測試作業完成后自動進行標記作業，使整個電容屏測試環節的自動化程度提高，總體生產效率大幅提升，并且由于驅動單元是由測試機構發出的反饋信號間接控制的，故能從根本上解決漏檢及漏標記問題，從而能大幅降低總體生產成本，對電容屏生產企業具有重大經濟意義。

附圖說明

圖1為本發明實施例提供的一種電容屏測試裝置的結構示意圖；

圖2為圖1中機械臂的結構示意圖。

具體實施方式

為了使本發明要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。

需要說明的是，當元件被稱為“固定于”或“設于”另一個元件上時，它可以直接在另一個元件上或者可能同時存在居中元件。當一個元件被稱為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接另一個元件或者可能同時存在居中元件。