[發(fā)明專利]基于Beamlet線特征定位的3D模型水印方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710190760.7 | 申請日: | 2017-03-28 |
| 公開(公告)號: | CN106709855B | 公開(公告)日: | 2020-07-28 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉晶;陳進磊;何文娟 | 申請(專利權)人: | 西安理工大學 |
| 主分類號: | G06T1/00 | 分類號: | G06T1/00 |
| 代理公司: | 西安弘理專利事務所 61214 | 代理人: | 羅磊 |
| 地址: | 710048*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 beamlet 特征 定位 模型 水印 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種利用頂點一環(huán)鄰域面積和Beamlet線特征構造水印同步信息的三維盲水印方法,包括以下步驟:依據(jù)三維模型頂點的一環(huán)鄰域面積,從小到大選出M個不重疊的一環(huán)鄰域;對此M個一環(huán)鄰域進行獨立的切面投影,提取M條Beamlet線特征,確定M個水印位的嵌入位置;修改與Beamlet線特征相對的頂點坐標,使與其相連的兩條網(wǎng)格邊長度相等來嵌入水印信息位;水印檢測不需要原始三維模型。本發(fā)明方法為空域盲水印方法,在保證水印透明性前提下,明顯改善了水印方法對抗仿射變換攻擊的魯棒性;算法對抗網(wǎng)格簡化、平滑和噪聲等攻擊也具有較強的魯棒性。
技術領域
本發(fā)明屬于數(shù)字水印方法技術領域,涉及一種基于Beamlet線特征定位的3D模型水印方法。
背景技術
三維模型用途廣泛,在娛樂業(yè)、制造業(yè)等都有其身影,因此,保護三維模型的版權相當重要。數(shù)字水印作為三維模型版權保護和內(nèi)容認證的有效手段,近年來得到廣泛研究。由于三維模型中的點、線、面數(shù)據(jù)具有有序性,且模型易受到平移、縮放、旋轉(zhuǎn)、網(wǎng)格簡化等處理的攻擊,致使水印嵌入過程中,無法利用傅里葉變換、余弦變換、小波變換等數(shù)學工具進行分析。這限制了三維模型水印技術的研究與發(fā)展,使三維模型水印方法的魯棒性弱、抗仿射變換攻擊能力差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種基于Beamlet線特征定位的3D模型水印方法,對仿射變換的旋轉(zhuǎn)和等比縮放等攻擊具有強魯棒性。
本發(fā)明所采用的技術方案是,基于Beamlet線特征定位的3D模型水印方法,包括以下步驟:
步驟1,嵌入水印;
步驟1.1,確定水印嵌入位置;
步驟1.1.1,計算三維模型頂點的一環(huán)鄰域面積;
步驟1.1.2,依據(jù)步驟1.1.1計算的面積,從小到大取M個獨立的一環(huán)鄰域,并將它們投影在各自的一環(huán)鄰域中心頂點的切面上,以中心頂點在切面上的投影為投影圖像的坐標原點,中心頂點的切面為平面建立新坐標系;
步驟1.1.3,用8×8個像素大小的二維圖像表示投影圖像,提取投影圖像的Beamlet線特征;
步驟1.2,嵌入二值水印序列b′;
修改一環(huán)鄰域內(nèi)與Beamlet線特征相對的頂點坐標,若修改Beamlet線特征左側的頂點坐標,使與該頂點相連的兩條網(wǎng)格邊長度相等,則嵌入二值水印b′的信息位‘1’;若修改Beamlet線特征右側的頂點坐標,使與該頂點相連的兩條網(wǎng)格邊長度相等,嵌入二值水印b′的信息位‘0’;
步驟1.3,將M個水印信息位依照步驟1.2嵌入到M個一環(huán)鄰域內(nèi)的相應頂點中,得到水印版三維模型;
步驟2,提取水印;
步驟2.1,確定攜帶水印信息位的頂點;
步驟2.1.1,計算水印版三維模型每個頂點的一環(huán)鄰域面積;
步驟2.1.2,依據(jù)步驟2.1.1計算的面積,從小到大取M個獨立的一環(huán)鄰域,并將它們投影在各自的一環(huán)鄰域中心頂點的切面上,中心頂點在切面上的投影為投影圖像的坐標原點;
步驟2.1.3,用8×8個像素大小的二維圖像表示投影圖像,提取投影圖像的Beamlet線特征;
步驟2.2,提取二值水印序列b″;
步驟2.2.1確定頂點攜帶的水印信息位:
若Beamlet線特征左側頂點的兩條相連網(wǎng)格邊長度相等,則攜帶水印信息位‘1’;
若Beamlet線特征右側頂點的兩條相連網(wǎng)格邊長度相等,則攜帶水印信息位‘0’;
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