[發明專利]電子系統及其上、下電狀態檢測電路

在審

• 申請號: 201710189832.6
• 申請日: 2017-03-27
• 公開（公告）號: CN108667449A
• 公開（公告）日: 2018-10-16
• 發明（設計）人: 耿彥;陳捷;馬曉媛;朱愷;尚超華
• 申請（專利權）人: 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司
• 主分類號: H03K19/0185
• 分類號: H03K19/0185;H03K17/687
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張振軍;吳敏

1.一種電子系統的上、下電狀態檢測電路，所述電子系統包括主電路和IO接口電路，其特征在于，所述上、下電狀態檢測電路包括：

第一電平轉換電路，其第一輸入端接入所述主電路的電源電壓，其第二輸入端接入所述IO接口電路的電源電壓，所述第一電平轉換電路適于對所述主電路的電源電壓進行電平轉換，以產生上下電檢測信號，所述上下電檢測信號處于所述IO接口電路的電源電壓界定的電源域。

2.根據權利要求1所述的上、下電狀態檢測電路，其特征在于，所述第一電平轉換電路包括：

第一N型開關，適于在其控制端為邏輯高電平時導通并在其控制端為邏輯低電平時關斷，所述第一N型開關的控制端耦接所述第一電平轉換電路的第一輸入端，所述第一N型開關的第一端耦接參考端，所述IO接口電路的電源電壓經由第一P型開關接入所述第一N型開關的第二端，其中，所述參考端為邏輯低電平；

第一反相器，其輸入端耦接所述第一N型開關的控制端，其正電源端直接或間接地接入所述IO接口電路的電源電壓，其負電源端耦接所述參考端；

第二N型開關，適于在其控制端為邏輯高電平時導通并在其控制端為邏輯低電平時關斷，所述第二N型開關的控制端耦接所述第一反相器的輸出端，所述第二N型開關的第一端耦接所述參考端，所述IO接口電路的電源電壓經由第二P型開關接入所述第二N型開關的第二端；

所述第一P型開關，適于在其控制端為邏輯低電平時導通并在其控制端為邏輯高電平時關斷，所述第一P型開關的第一端接入所述IO接口電路的電源電壓，所述第一P型開關的第二端耦接所述第一N型開關；

所述第二P型開關，適于在其控制端為邏輯低電平時導通并在其控制端為邏輯高電平時關斷，所述第二P型開關的第一端接入所述IO接口電路的電源電壓，所述第二P型開關的第二端耦接所述第二N型開關。

3.根據權利要求2所述的上、下電狀態檢測電路，其特征在于，還包括：

降壓電路，適于對所述IO接口電路的電源電壓進行降壓，所述第一反相器的正電源端經由所述降壓電路接入所述IO接口電路的電源電壓。

4.根據權利要求3所述的上、下電狀態檢測電路，其特征在于，所述降壓電路包括：一個二極管或串聯的多個二極管。

5.根據權利要求4所述的上、下電狀態檢測電路，其特征在于，所述二極管包括：

第一PMOS管，其柵極耦接其漏極并耦接所述二極管的負極，其源極耦接所述二極管的正極。

6.根據權利要求4或5所述的上、下電狀態檢測電路，其特征在于，所述一個二極管或所述多個二極管與各自的導通控制電路并聯，所述導通控制電路接入對應的控制信號和使能信號，當所述使能信號為有效電平時，所述導通控制電路導通以使得所述二極管被短接，當所述使能信號為無效電平時，所述導通控制電路根據所述控制信號導通或者斷路。

7.根據權利要求6所述的上、下電狀態檢測電路，其特征在于，所述控制信號由所述主電路提供；所述使能信號為所述上下電檢測信號或者基于所述上下電檢測信號生成，當所述主電路上電時，所述使能信號為所述無效電平，當所述主電路下電時，所述使能信號為所述有效電平。

8.根據權利要求7所述的上、下電狀態檢測電路，其特征在于，所述導通控制電路包括：

短接開關，其控制端接入所述控制信號，其第一端耦接所述二極管的正極，其第二端耦接所述二極管的負極；

使能開關，適于在其控制端為所述有效電平時導通并在其控制端為所述無效電平時關斷，其控制端接入所述使能信號，其第一端耦接所述短接開關的控制端，其第二端耦接所述參考端。

9.根據權利要求8所述的上、下電狀態檢測電路，其特征在于，所述短接開關為第二PMOS管，所述使能開關為NMOS管。