[發明專利]一種基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統

在審

• 申請號: 201710187489.1
• 申請日: 2017-03-27
• 公開（公告）號: CN106707075A
• 公開（公告）日: 2017-05-24
• 發明（設計）人: 郭黎青;李農;杜憲成
• 申請（專利權）人: 青島高科通信股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R19/25;G01R19/02;G01R23/165
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司11570
• 代理人: 劉杰

1.一種基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于，包括：電能質量分析儀、數據采集服務器、本地監控終端以及遠程監控終端；

所述電能質量分析儀與所述數據采集服務器相連，所述本地監控終端和所述遠程監控終端分別與所述數據采集服務器相連；

所述電能質量分析儀包括：電壓測量結構、第一濾波電路、電流測量結構、第二濾波電路、頻率跟蹤模塊、模數轉換芯片、現場可編程門陣列、ARM處理器、液晶顯示器以及按鍵模組；

所述電壓測量結構通過所述第一濾波電路與所述模數轉換芯片相連；所述電流測量結構通過所述第二濾波電路與所述模數轉換芯片相連；

所述模數轉換芯片與所述現場可編程門陣列相連；

所述第一濾波模塊通過所述頻率跟蹤模塊與所述現場可編程門陣列相連；

所述現場可編程門陣列與所述ARM處理器相連；

所述ARM處理器分別與所述液晶顯示器以及按鍵模組相連。

2.如權利要求1所述的基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于，所述電能質量分析儀包括：第一電能質量分析儀和/或第二電能質量分析儀/或第三電能質量分析儀；

其中，所述第一電能質量分析儀采用IEC61850標準，所述第二電能質量分析儀采用除所述IEC61850標準外的其他標準協議，所述第三電能質量分析儀采用自定義的通信協議。

3.如權利要求1所述的基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于，所述頻率跟蹤模塊包括：頻率跟蹤電路；

所述頻率跟蹤電路分別與所述第一濾波電路和所述現場可編程門陣列相連。

4.如權利要求1所述的基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于：所述模數轉換芯片采用AD7606同步采樣模數數據采集芯片。

5.如權利要求1所述的基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于：所述第一濾波電路和所述第二濾波器采用二階有源低通濾波器。

6.如權利要求1所述的基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于：所述電壓測量結構包括：電壓互感器；

所述電壓互感器與所述第一濾波電路相連。

7.如權利要求6所述的基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于：所述電壓互感器的數量為兩個以上。

8.如權利要求1所述的基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于，所述電流測量結構包括：電流互感器；

所述電流互感器與所述第二濾波電路。

9.如權利要求1所述的基于ARM和FPGA的電能質量在線監測系統，其特征在于，所述電流互感器的數量為兩個以上。