[發明專利]一種基于陣列天線的電磁波室

有效

• 申請號: 201710187155.4
• 申請日: 2017-03-27
• 公開（公告）號: CN106850086B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: 李銀虎;張寧寧;鐘盼希;巫新華;韓朱明;李銀龍
• 申請（專利權）人: 深圳市中冀聯合技術股份有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04B7/0426
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 王利彬

本發明適用于無線通訊終端檢測技術領域，提供了一種基于陣列天線的電磁波室，所述電磁波室內包括：功率分配器、若干陣列天線、測試臺和高速數據濾波接口；功率分配器位于電磁波室內部側壁，若干陣列天線呈等間距排列并且與功率分配器連接，所述若干陣列天線的信號輻射方向均與所述測試臺上表面垂直；所述功率分配器用于為所述若干陣列天線同時提供等幅同相激勵；所述若干陣列天線用于根據所述激勵分別向空間產生輻射信號，以疊加形成準平面波，從而在用于放置被測件的所述測試臺表面形成靜區；所述高速數據濾波接口位于所述電磁波室的側壁，用于傳輸帶有被測件射頻性能的信號。本發明提供的電磁波室可對無線通訊終端產品進行準確的射頻性能測試。

技術領域

本發明屬于無線通訊終端檢測技術領域，尤其涉及一種基于陣列天線的電磁波室。

背景技術

隨著無線電技術的迅速發展，對無線電管理工作者提出了新的要求，為了從源頭上保證正常使用，必須加強對無線終端設備的檢測。現有技術主流測試是無源測試和有源測試；無源測試從天線的增益、效率、方向圖等方面來考察天線輻射性能，無法直接得知天線與整機配合后最終發射功率和接收靈敏度指標，需要對終端設備的整機性能進行有源測試，即對手機發射性能評估的總輻射功率測試。OTA(Over The Air，空間輻射性能測試)測試就是正在成為手機、路由器、藍牙等無線終端產品廠家認可的有源測試。

但是，OTA測試所用到的微波暗室體積龐大、費用昂貴，適合研發實驗室做精準調試使用而非產線上大規模使用。因此橫電磁波傳輸室(TEM Cell)應運而生，其結構封閉、不向外輻射能量，因而不干擾其他儀器，不危害測試人員健康且成本低廉。但依然存在缺陷，一方面，上限工作頻率低，只能產生單極化電場，測試需要三個正交方向翻轉被測件，并且由于內部模擬電磁波分布不均勻、不同位置電磁波能量差異大，從而造成了測試環境內對待測物放置位置要求高，被測件測試結果不準確的問題；另一方面，橫電磁波傳輸室為三角錐形，形狀不規則，高度高、體積大，不易加工，產線上用作測試不便與自動化產線協同作業，為自動化生產在提高效率、節約成本上帶來局限；還有一種方法是基于耦合板的測試方法，它的缺點是內部模擬電磁波分布不均勻，對于同一被測件，需放置于指定位置，對于不同被測件，每次測量需要調整位置，并且測試時需要翻轉被測件，加上耦合能量不均勻，使得測試一致性較差。

因此目前主流的橫電磁波傳輸室測試多天線耦合和利用耦合板的測試方法，都存在由于內部模擬電磁波分布不均勻從而導致對被測件放置位置要求高，測試時需要翻轉被測件，并且測試準確率低的問題，依然有很多缺點和極大改進空間。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種基于陣列天線的電磁波室，旨在解決利用現有裝置對被測件測試時，由于內部模擬電磁波分布不均勻從而導致對被測件放置位置要求高，測試時需要翻轉被測件，并且測試準確率低的問題。

本發明提供了一種基于陣列天線的電磁波室，所述電磁波室內包括：功率分配器、若干陣列天線、測試臺和高速數據濾波接口；

所述功率分配器位于所述電磁波室內部側壁，所述若干陣列天線呈等間距排列并且與所述功率分配器連接，所述若干陣列天線的信號輻射方向均與所述測試臺上表面垂直；所述功率分配器用于為所述若干陣列天線同時提供等幅同相激勵；所述若干陣列天線用于根據所述激勵分別向空間產生輻射信號，以疊加形成準平面波，從而在用于放置被測件的所述測試臺表面形成靜區；

所述高速數據濾波接口位于所述電磁波室的側壁，用于濾除所述電磁波室內的高頻干擾信號，并用于傳輸帶有被測件射頻性能的信號。

進一步地，所述靜區與所述若干陣列天線之間的距離L滿足L≥(2*D2)/λ，其中，D為所述若干陣列天線輻射口徑對角線長度，λ為所述若干陣列天線工作波長。

進一步地，所述電磁波室內還包括部分鋪設吸波材料，所述部分鋪設吸波材料鋪設于所述電磁波室內壁的底面，用于均衡由所述若干陣列天線發射到所述電磁波室底部的電磁波。