[發明專利]二次電源紋波測量裝置

在審

• 申請號: 201710186871.0
• 申請日: 2017-03-27
• 公開（公告）號: CN107422277A
• 公開（公告）日: 2017-12-01
• 發明（設計）人: 王小朋;張達
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01R31/42
• 分類號: G01R31/42
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所(普通合伙)22210
• 代理人: 于曉慶

技術領域

本發明涉及電源測試技術領域，具體涉及一種二次電源紋波測量裝置。

背景技術

紋波測量是二次電源質量檢測中很重要的一個參數，同時，它也是二次電源測量中的一個難點，對測量儀器和測量方法都有著較高的要求。由于直流穩壓電源一般是由交流電源經整流、濾波、穩壓等環節而形成的，這就不可避免地在直流電壓中帶有一些交流分量，將這種疊加在直流電壓上的交流分量稱之為紋波。

目前，對于二次電源的紋波測量方法主要有靠測法和同軸線紋波測量法，而測量儀器主要采用示波器。利用靠測法進行紋波測量時，必須要注意的是一定不能將錯誤信號引入示波器；同軸線紋波測量法是一種常用的紋波測量方法，但是，在操作時需要單獨制作一套同軸線纜以及信號調節網路與示波器進行連接，并且需要對示波器探頭做一定處理從而使其與同軸線纜以及信號調節網路相匹配，測量人員要有相當豐富的實測經驗才能避免測量誤差，如果測量不當，則每次測量相對誤差較大，可信度大大降低。

發明內容

為了解決現有的二次電源紋波測量存在的測量準確度低的問題，本發明提供一種二次電源紋波測量裝置。

本發明為解決技術問題所采用的技術方案如下：

本發明的一種二次電源紋波測量裝置，包括：

二次電源測量接口，用于連接被測二次電源；

與二次電源測量接口相連的負載接口，用于連接負載；

與二次電源測量接口相連的阻抗匹配調節網絡，用于過濾紋波中的雜波；

通過電纜與阻抗匹配調節網絡相連的連接頭，用于消除紋波中的雜波；

通過電纜與連接頭相連的示波器，用于顯示紋波；

包裹在電纜外部且與被測二次電源回線相連的屏蔽層，所述屏蔽層與連接頭均接地；

所述負載接口、屏蔽層、二次電源測量接口、阻抗匹配調節網絡均集成在小型電路板上。

進一步的，所述阻抗匹配調節網絡由第一電阻和第一電容串聯組成。

更進一步的，所述第一電阻采用50Ω/1w碳膜電阻。

更進一步的，所述第一電容采用1μF電容。

進一步的，所述連接頭中內置信號調節網絡，所述信號調節網絡由第二電阻和第二電容并聯組成。

更進一步的，所述第二電阻采用50Ω/1w碳膜電阻。

更進一步的，所述第二電容采用2700pF電容。

進一步的，所述負載接口和二次電源測量接口均采用鳳凰端子。

進一步的，所述屏蔽層采用銅箔或銅網。

進一步的，所述電纜采用50Ω同軸電纜。

本發明的有益效果是：

本發明設計了阻抗匹配調節網絡、信號調節網絡以及專用的二次電源測量接口，提高了紋波測量的準確性與便利性；改進了接地設計，避免了測試過程中人為因素的干擾，大大簡化了二次電源紋波的測試過程；本領域普通工程師也可以對二次電源紋波進行高效并且準確的測量。

附圖說明

圖1為本發明的一種二次電源紋波測量裝置的結構示意圖。

圖2為阻抗匹配調節網絡與信號調節網絡連接關系示意圖。

圖中：1、小型電路板，2、負載接口，3、屏蔽層，4、二次電源測量接口，5、阻抗匹配調節網絡，6、電纜，7、被測二次電源，8、連接頭，9、示波器，10、負載，R1、第一電阻，R2、第二電阻，C1、第一電容，C2、第二電容。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明作進一步詳細說明。

如圖1所示，本發明的一種二次電源紋波測量裝置，包括：小型電路板1、負載接口2、屏蔽層3、二次電源測量接口4、阻抗匹配調節網絡5、電纜6、連接頭8、示波器9。

負載接口2、屏蔽層3、二次電源測量接口4、阻抗匹配調節網絡5均集成在小型電路板1上。被測二次電源7通過二次電源測量接口4與本發明的二次電源紋波測量裝置相連。負載接口2與二次電源測量接口4相連。負載10通過負載接口2與本發明的二次電源紋波測量裝置相連，在對被測二次電源7進行測量時，必須接入負載10才能測量，這是因為紋波的測量必須是在額定負載下測量才有意義。二次電源測量接口4與阻抗匹配調節網絡5相連，阻抗匹配調節網絡5通過電纜6與連接頭8相連，連接頭8通過電纜6與示波器9相連，屏蔽層3包裹在電纜6外部，同時，屏蔽層3與連接頭8均接地，屏蔽層3還與被測二次電源7的回線相連。屏蔽層3的作用主要是：防止外部的信號進入本發明的一種二次電源紋波測量裝置。