[發明專利]一種電流測量方法及傳感器系統

有效

• 申請號: 201710186032.9
• 申請日: 2017-03-24
• 公開（公告）號: CN106950415B
• 公開（公告）日: 2023-10-13
• 發明（設計）人: 黃海濱;尹有杰;馬輝
• 申請（專利權）人: 杭州思泰微電子有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00
• 代理公司: 無錫盛陽專利商標事務所(普通合伙) 32227
• 代理人: 張寧;楊辰

1.一種電流測量方法，其特征在于，導體通入待測電流I_T為下層，帶有四個磁傳感器的硅片件放置于導體上方為上層,導體前方開設有兩個對稱的U型槽，第一磁傳感器放置于一個所述U型槽開口內垂直映射到上層的位置，第二磁傳感器放置于另一個所述U形凹槽開口內垂直映射到上層的位置，第三磁傳感器和第四磁傳感器放置于第一磁傳感器與第二磁傳感器之間且位于導體上方垂直映射到上層的位置，設B為待處理磁通量，B_T為待處理磁通量B中待測電流I_T通過導體產生部分，B_N為待處理磁通量B中外部干擾源I_N產生部分，經過算法計算得出待處理磁通量B的同時衰減外部干擾源所產生的磁場導致的干擾信號，根據待處理磁通量B求出待測電流I_T的大小；計算待處理磁通量B的推導公式如下：待測電流I_T對四個磁傳感器的磁通量分別用B_Ta、B_Tb、B_Tc、B_Td表示，干擾源對磁傳感器的磁通量用B_Na、B_Nb、B_Nc、B_Nd表示，四個磁傳感器的總磁通量分別用B_a、B_b、B_c、B_d表示，則

B＝B_a+B_b-(B_c+B_d)

＝(B_Ta+B_Na)+(B_Tb+B_Nb)–(B_Tc+B_Nc)–(B_Td+B_Nd)

≈B_Ta+B_Na+B_Nb-B_Nc-B_Nd(B_Tc、B_Td遠小于其他分量)

＝B_Ta+B_Tb+(B_Na+B_Nb-B_Nc-B_Nd)

＝B_T+B_N。

2.一種電流測量的傳感器系統，其特征在于，其包括處于下層的帶U形凹槽的導體和處于上層的帶有四個磁傳感器的硅片，導體前方有兩個對稱U型槽第一磁傳感器放置于一個所述U型槽開口內垂直映射到上層的位置，第二磁傳感器放置于另一個所述U形凹槽開口內垂直映射到上層的位置，第三磁傳感器和第四磁傳感器放置于第一磁傳感器與第二磁傳感器之間且位于導體上方垂直映射到上層的位置。