[發(fā)明專利]封閉空間內X、γ射線電離輻射強度檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710185286.9
• 申請日: 2017-03-25
• 公開（公告）號: CN107132567B
• 公開（公告）日: 2019-06-18
• 發(fā)明（設計）人: 韓志堅
• 申請（專利權）人: 浙江君安檢測技術有限公司
• 主分類號: G01T1/16
• 分類號: G01T1/16
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種封閉空間內X、γ射線電離輻射強度檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

1)選擇要測量的空間輻射點；

2)以該空間輻射點為原心建立三維空間坐標，之后如下步驟：

a)以M1(0,Y,0)、M2(X,0,0)、M3(0,-Y,0)、M4(-X,0,0)、M5(0,0,Z)、M6(0,0,-Z)建立第一批測量點進行測量并記錄；

b)以N1(-X/2,Y/2,Z/2)、N2(-X/2,Y/2,-Z/2)、N3(X/2,Y/2,Z/2)、N4(X/2,-Y/2,-Z/2)、N5(-X/2,-Y/2,Z/2)、N6(-X/2,-Y/2,-Z/2)、N7(X/2,-Y/2,Z/2)、N8(X/2,-Y/2,-Z/2)建立第二批測量點進行測量并記錄；

c)以第一批測量點中任意一一點和第二批測量點中任意一點連線的中點建立第三批測量點P1、P2……P48進行測量并記錄；

d)測量1)中空間輻射點的輻射強度A；

其中8≤X＝Y＝Z≤10mm，以上測量過程中均選擇同一臺或同一批X射線檢測儀,M1-M6、N1-N8、P1-P48均代表測量點的輻射強度；

e)計算第一批的均值B、第二批的均值C以及第三批的標準差σ，最終結果值其中E常量為3.47。

2.根據(jù)權利要求1所述一種封閉空間內X、γ射線電離輻射強度檢測方法，其特征是：8.5≤X＝Y＝Z≤8.9mm。

3.根據(jù)權利要求1所述一種封閉空間內X、γ射線電離輻射強度檢測方法，其特征是：使用X射線檢測儀測量該輻射點得出數(shù)值A，并與標準值X進行比較，當A≤X-b，結束測量，其中X為國家標準值，b為常量。

4.根據(jù)權利要求1所述一種封閉空間內X、γ射線電離輻射強度檢測方法，其特征是：X射線檢測儀的誤差在±15％。