[發明專利]一種分光光度法檢測水樣中銀離子的方法

在審

• 申請號: 201710182852.0
• 申請日: 2017-03-24
• 公開（公告）號: CN106950189A
• 公開（公告）日: 2017-07-14
• 發明（設計）人: 齊瑩瑩;修福榮;翁晴;翁慧瑋
• 申請（專利權）人: 福建工程學院
• 主分類號: G01N21/33
• 分類號: G01N21/33
• 代理公司: 福州市鼓樓區京華專利事務所(普通合伙)35212
• 代理人: 宋連梅

【技術領域】

本發明屬于分析檢測領域，具體涉及一種分光光度法檢測水樣中銀離子的方法。

【背景技術】

銀在電子、電鍍、感光等行業應用廣泛，導致工業廢水中大量銀離子的產生，離子形式的銀毒性最大，嚴重污染環境且危害人們的身體健康。目前，世界衛生組織(WHO)建議飲用水中允許的最大濃度為0.1mg/L(927nM)，美國環境保護署(EPA)建議最大限度為0.05mg/L(464nM)。因此，銀離子的檢測對保護環境和維護人們的身體健康很有意義。

常用的銀離子檢測技術方法主要有等離子體質譜法(ICP-MS)、原子光譜法、電化學法、熒光分析法、比色法和紫外吸收光譜法等。這些方法存在一些缺陷：檢測過程復雜、耗時長；使用儀器設備昂貴精良，且需要進行復雜的預處理，對技術人員要求高；背景信號高、靈敏度低等缺點。

而分光光度法因具有簡便快速、儀器廉價通用等突出的特點而被用于銀離子的檢測。但是，目前已經發展的分光光度法檢測Ag⁺的分析方法，其靈敏度普遍偏低，且設計原理較為復雜，使得方法的精密度不夠，從而影響檢測的準確度，因此，分光光度法檢測銀離子的技術方法仍然面臨著挑戰，進一步提高分析的靈敏性，發展簡便實用的分光光度法檢測水樣中低濃度銀離子的技術方法顯然是從業人員所迫切期望地。

【發明內容】

本發明所要解決的技術問題在于提供一種分光光度法檢測水樣中銀離子的方法。

本發明是通過以下技術方案解決上述技術問題的：一種分光光度法檢測水樣中銀離子的方法，該方法包括如下步驟：

(1)標準曲線的制備：

a、取銀離子適配體配制濃度為1×10^-6mol/L的銀離子適配體溶液，待用；配制一系列不同濃度的銀離子溶液，待用；

b、取配制的各銀離子溶液與銀離子適配體溶液分別進行等體積混合，并于室溫下作用10分鐘，得適配體-銀離子溶液；

c、于所得適配體-銀離子溶液中分別加入濃度為2.5×10^-9mol/L的正電納米金溶液，作用5分鐘，則得標準溶液；其中，正電納米金溶液：適配體-銀離子溶液的體積比為1：1；

d、將標準溶液進行紫外-可見吸收光譜的掃描，同時測定標準溶液在波長為620nm和520nm處的吸光度值，即A₆₂₀和A₅₂₀，并計算吸光度比值A₆₂₀/A₅₂₀；

e、以標準溶液的銀離子溶液的濃度作為橫坐標，以所得的吸光度比值A₆₂₀/A₅₂₀為縱坐標，繪制標準曲線；

(2)測定待測水樣中的銀離子濃度：

f、取待測水樣并經0.22μm濾膜過濾，然后加熱煮沸除凈待測水樣中的氯，再冷卻至室溫即得待測樣本；接著取待測樣本替代步驟b中所述的銀離子溶液，并依據步驟b、步驟c操作則獲得待測溶液；

g、將所得待測溶液進行紫外-可見吸收光譜的掃描，同時測定待測溶液在波長為620nm和520nm處的吸光度值，計算得其吸光度比值A₆₂₀/A₅₂₀，最后將該吸光度比值A₆₂₀/A₅₂₀和上述繪制的標準曲線進行比對，計算待測水樣中的銀離子濃度。

進一步地，所述步驟a中，銀離子適配體溶液的具體配制過程為：取銀離子適配體并采用pH值為7.5的Tris-HCl緩沖溶液溶解，配制濃度為1×10^-6mol/L的銀離子適配體溶液。

本發明的有益效果在于：

本發明提供一種分光光度法檢測水樣中銀離子的方法，其利用正電納米金溶液與適配體-銀離子溶液配合，具有選擇性好與良好的可靠性，使得檢測靈敏度較高、檢出限低，而且應用時，只需采用廉價且通用的分光光度計既可完成檢測操作，整個檢測操作簡便快速，對操作技術人員的技術要求低，易于廣泛推行應用。

【附圖說明】

下面參照附圖結合實施例對本發明作進一步的描述。

圖1是本發明實施例1中的標準曲線圖。

圖2是本發明實施例2中的紫外-可見吸收光譜的光譜圖。

圖3是本發明實施例2中混合液Ⅰ在透射電鏡下的電鏡圖。

圖4是本發明實施例2中混合液Ⅱ在透射電鏡下的電鏡圖。

圖5是本發明中實施例3的選擇性測試結果示意圖。

【具體實施方式】