[發明專利]汽輪發電機軸瓦超聲波檢測方法在審
| 申請號: | 201710181767.2 | 申請日: | 2017-03-24 |
| 公開(公告)號: | CN107102059A | 公開(公告)日: | 2017-08-29 |
| 發明(設計)人: | 尹健;楊丹;寧玉恒;謝軍軍;劉巍棟;張炳奇 | 申請(專利權)人: | 大唐東北電力試驗研究所有限公司 |
| 主分類號: | G01N29/04 | 分類號: | G01N29/04;G01N29/11 |
| 代理公司: | 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙)32257 | 代理人: | 鄭海 |
| 地址: | 130012 吉林*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 汽輪發電機 軸瓦 超聲波 檢測 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種汽輪發電機軸瓦超聲波檢測方法。
背景技術
汽輪機軸瓦一般以優質鑄鐵(含碳量0.35%以下)鑄造成型,然后在其內表 面澆鑄一層5-12mm的巴氏合金形成,巴氏合金成分以錫為主,同時加入少量的 銅、鎳、銻等。巴士合金與基材通過掛錫處理形成過渡層(Fe-Sn—FeSN2),隨 后經過離心澆鑄和機加工最終形成巴氏合金層。
汽輪機在工作時,轉子高速運轉(3000轉/分)。將在軸瓦上產生很大的徑 向、軸間載荷并伴隨著突發情況的沖擊力作用。如軸瓦上有脫層等缺陷的存在, 在各種外力的綜合作用下,將使脫層等缺陷擴展,甚至造成軸瓦烏金復合層的 脫落與熔化,從而引發燒瓦和停機事故。所以按照《火力發電廠金屬技術監督 規程》(DL/T438-2009)在機組檢修期間應對軸瓦進行超聲波檢測。
鑒于上述,本設計人積極加以研究創新,以期創設一種汽輪發電機軸瓦超 聲波檢測方法,使其更具有產業上的利用價值。
發明內容
為解決上述技術問題,本發明的目的是提供一種操作性強、準確度高的汽 輪發電機軸瓦超聲波檢測方法。
本發明汽輪發電機軸瓦超聲波檢測方法,包括:
利用單晶探頭進行軸瓦超聲檢測,采用巴氏合金試塊或碳鋼試塊進行探傷 靈敏度的調整;
獲取軸瓦巴氏合的厚度,
若軸瓦巴氏合金鋼的厚度小于或等于8mm時,則采用波形對比法進行軸瓦 檢測,具體包括:在示波屏上顯示軸瓦超聲檢測波形,將顯示的波形與預先定 義的標準波形進行對比,判斷軸瓦底面與合金界面結合良好或軸瓦底面與合金 界面存在分層缺陷;其中,判定為具有分層缺陷的軸瓦,則采用底波法對缺陷 缺陷面積的定量,具體包括:當發現缺陷時,移動探頭,使一次底波升高到滿 屏刻度的40%,此時探頭中心作為分層區的邊界點,至此完成了軸瓦的檢測;
若軸瓦巴氏合金鋼的厚度大于8mm,則采用波形觀察法進行軸瓦檢測,在示 波屏上顯示界面的反射波、基材底波,通過界面的反射波與基材底波的波幅變 化來判斷界面的質量,具體包括:
當合金界面一次反射波高出100%屏高,有界面二次反射波,但波高低于50% 屏高,同時伴隨著底波顯示,則確定界面結合良好,無缺陷;
當界面反射波幅大于80%,降低探傷靈敏度的情況下,二次波的波幅不低于 70%,并出現多次界面回波,且基材底波消失,和/或界面的多次回波波高衰減 符合超聲波的衰減規律,既回波之間的波高相差6dB,則確定軸瓦底面與合金界 面存在分層缺陷,且分層缺陷的面積大于探頭晶片尺寸;當發現分層缺陷時, 在合金表面移動探頭;
當存在一次反射波、二次反射波的前下,無三次反射波或三次反射波低于 20%,和/或軸瓦底波出現;以及當移動探頭時,波形消失,則確定合金界面存 在分散性分層,缺陷面積小于探頭面積,或由于巴氏合金在澆鑄中氣體未釋放 出來,界面存在氣孔缺陷;
當發現分層缺陷時,在合金表面移動探頭,當界面二次反射波高降到50% 時,此時探頭中心就分層區的邊界點;至此完成了軸瓦的檢測。
進一步地,所述單晶探頭為5PΦ8單晶直探頭。
進一步地,采用巴氏合金試塊或碳鋼試塊進行軸瓦超聲檢測靈敏度的調整 的具體方法包括:
(1)單晶探頭為5Z10N,采用厚度為8mm的白合金TP調整探傷靈敏度,將 單晶探頭5Z10N放置在白合金TP試塊上,白合金TP試塊厚度(T)方向作為大 平底,將第4次平底反射波調整到100%波高,即完成探傷靈敏度的調整;或
(2)單晶探頭為5Z5N,采用厚度為8mm的白合金TP調整探傷靈敏度,將 單晶探頭5Z5N放置在白合金TP試塊上,白合金TP試塊厚度(T)方向作為大 平底,將第4次平底反射波調整到100%波高,即完成探傷靈敏度的調整;或,
(3)單晶探頭為5Z10N,采用厚度為15或16mm的JIS STB-A3調整探傷靈 敏度,將單晶探頭5Z10N放置在JIS STB-A3試塊上,JIS STB-A3試塊厚度(T) 方向作為大平底,將第6次平底反射波調整到100%波高,即完成探傷靈敏度的 調整;或
(4)單晶探頭為5Z5N,采用厚度為15或16mm的JIS STB-A3調整探傷靈 敏度,將單晶探頭5Z5N放置在JIS STB-A3試塊上,JIS STB-A3試塊厚度(T) 方向作為大平底,將第3次平底反射波調整到100%波高,即完成探傷靈敏度的 調整;或
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