[發明專利]基于縫隙波導近場耦合的無源互調測試方法有效
| 申請號： | 201710180551.4 | 申請日： | 2017-03-23 |
| 公開（公告）號： | CN106992798B | 公開（公告）日： | 2020-03-17 |
| 發明（設計）人： | 高凡;趙小龍;張松昌;賀永寧 | 申請（專利權）人： | 西安交通大學 |
| 主分類號： | H04B3/46 | 分類號： | H04B3/46 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人： | 王艾華 |
| 地址： | 710049 陜*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 縫隙 波導 近場 耦合 無源 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.基于縫隙波導近場耦合的無源互調測試方法，其特征在于，在常規PIM測試方法的基礎上，在測試系統中加入縫隙波導結構，實現近場耦合PIM測試功能：具體步驟如下：
1)測試時，待測件(DUT)放在縫隙波導上，在縫隙波導外壁的縫隙處，覆蓋高介電常數的介質板以減弱外泄電磁場遠場的強度，縫隙波導并沒有形成輻射遠場，在測試頻段內，縫隙波導兩端口的S21近似為0dBm，通過調控介質板的厚度以及波導縫隙的長度，可以控制待測件表面電流的強弱；
波導縫隙的長寬比為：縫隙長度為到λ0為載波波長，若縫隙長度接近可在縫隙外覆蓋高介電常數的介質板(1)，使波導S11小于-20dB，S21≈0；
2)待測件(DUT)放置于介質板上，待測件(DUT)的結構包括點線面類型的結構,其典型應用場景為：平板壓接、圓柱插接和絲網搭接三類金屬接觸結構；根據研究的金屬接觸結連接形式，設計DUT結構，并使用網分確認縫隙波導加載DUT時其S21不會惡化；
3)激勵載波與PIM信號的拾取都使用同一個波導實現，對待測樣PIM的檢測用一套PIM測試系統就能完成，并且能夠做到隨時在線更換待測樣。
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