[發明專利]異物檢測裝置、異物檢測方法以及玻璃板的制造方法

在審

• 申請號: 201710178461.1
• 申請日: 2017-03-23
• 公開（公告）號: CN107228841A
• 公開（公告）日: 2017-10-03
• 發明（設計）人: 北山大介;塚本徹
• 申請（專利權）人: 旭硝子株式會社
• 主分類號: G01N21/49
• 分類號: G01N21/49;G01N21/94;C03B18/02
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙)11277
• 代理人: 劉新宇

技術領域

本發明涉及一種異物檢測裝置、異物檢測方法以及玻璃板的制造方法。

背景技術

在利用浮法進行的玻璃板的成形中，存在如下的情況：在微小的熔融錫附著于已與熔融錫接觸過的玻璃板的下表面的狀態下將玻璃板從熔融錫上拉離。附著于玻璃板的下表面的熔融錫在玻璃板被從熔融錫上拉離之后成為氧化錫(浮渣)，從而成為異物。在玻璃板的制造工序中，利用了檢測浮渣等異物的技術(專利文獻1)。

專利文獻1：日本專利第5471157號公報

發明內容

發明要解決的問題

但是，專利文獻1所記載的技術以檢測大小為50μm左右的浮渣為目的，在檢測大小為10μm左右的浮渣時，受到芒硝膜等的外部干擾的影響，而存在檢測的精度下降或無法檢測的問題。

鑒于所述情形，本發明提供一種能夠提高檢測附著于玻璃板的微小異物的精度的異物檢測裝置、異物檢測方法以及玻璃板的制造方法。

用于解決問題的方案

本發明的一個方式是一種異物檢測裝置，具備：照明部，其用于朝向玻璃板的表面照射紅外光；攝像部，其用于拍攝所述玻璃板的被照射所述紅外光的區域；以及判定部，其根據在由所述攝像部拍攝到的圖像中有無具有超過閾值的亮度的像素來判定所述玻璃板的表面有無異物，其中，成為所述紅外光的強度分布中強度最強的波長被包含在構成緩沖膜的粉末的粒徑的分布范圍內，該緩沖膜形成于所述玻璃板的表面。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測裝置中，所述攝像部被配置在不直接接收反射光的位置，該反射光是從所述照明部照射的所述紅外光在所述玻璃板的表面進行了鏡面反射所得到的反射光，所述具有超過閾值的亮度的像素是拍攝到所述紅外光在所述異物上發生散射所得到的散射光的像素。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測裝置中，所述紅外光的波長被包含在800nm至1400nm范圍內。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測裝置中，所要檢測的所述異物的大小不被包含在所述粉末的粒徑的分布范圍內。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測裝置中，所述粉末是芒硝。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測裝置中，在所述照明部中使用發光二極管照明、鹵素加熱器或激光器。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測裝置中，所述攝像部具備使由所述照明部照射的紅外線的波長透過的帶通濾波器。

另外，本發明的一個方式是一種異物檢測方法，包括以下工序：照射工序，朝向玻璃板的表面照射紅外光；攝像工序，拍攝所述玻璃板的被照射所述紅外光的區域；以及判定工序，根據在通過所述攝像工序拍攝的圖像中有無具有超過閾值的亮度的像素來判定所述玻璃板的表面有無異物，其中，成為所述紅外光的強度分布中強度最強的波長被包含在構成緩沖膜的粉末的粒徑的分布范圍內，該緩沖膜形成于所述玻璃板的表面。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測方法中，在所述攝像工序中，不直接拍攝所述紅外光在所述玻璃板的表面進行了鏡面反射的反射光，所述具有超過閾值的亮度的像素是拍攝到所述紅外光在所述異物上發生散射所得到的散射光的像素。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測方法中，所述紅外光的波長被包含在800nm至1400nm范圍內。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測方法中，所要檢測的所述異物的大小不被包含在所述粉末的粒徑的分布范圍內。

另外，本發明的一個方式為，在所述異物檢測方法中，所述粉末是芒硝。

另外，本發明的一個方式是一種玻璃板的制造方法，包括以下工序：熔融工序，將玻璃的原材料熔融而得到熔融玻璃；成形工序，將所述熔融玻璃成形為連續的板狀的玻璃帶；緩冷工序，使所述玻璃帶一邊移動一邊逐漸冷卻；檢查工序，檢測所述玻璃帶表面的異物；以及切斷工序，對所述玻璃帶進行切斷，在該玻璃板的制造方法中，利用所述異物檢測方法進行所述檢查工序。

發明的效果

根據本發明，能夠提高檢測附著于玻璃板的微小異物的精度。

附圖說明

圖1是示出第一實施方式中的異物檢測裝置的結構的示意圖。

圖2是從玻璃板的板寬方向觀察第一實施方式中的異物檢測裝置的圖。

圖3是第二實施方式中的應用了異物檢測裝置的玻璃板的生產線的概要說明圖。