[發明專利]一種獲取射頻功放load pull參數的方法

有效

• 申請號: 201710175042.2
• 申請日: 2017-03-22
• 公開（公告）號: CN106998232B
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發明（設計）人: 陳永佑
• 申請（專利權）人: 普聯技術有限公司
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10;H04B17/11;H04B17/15;H04B17/21;H04B17/29
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 麥小嬋;郝傳鑫

本發明提供了一種獲取射頻功放load pull參數的方法，采用產品成品測試，包括判斷配置有相同的射頻功放的N個產品成品中是否有至少一個產品成品屬于確定優良產品；若是則用阻抗參數系統獲取其中每個確定優良產品的射頻功放的負載阻抗值，以及用電氣參數系統測量每個確定優良產品的射頻功放在有源條件下的電氣參數，作為射頻功放的load pull參數；否則選取其中一個產品成品作為待測產品成品，并通過改變改待測產品成品的匹配網絡參數來找到一組符合使用要求的load pull參數。本發明使用產品成品測試，無需為每個DUT定制一個測試印制電路板，縮短了測試周期，節約了資源，避免了額外的環境污染。

技術領域

本發明涉及射頻通信領域，尤其涉及一種獲取射頻功放load pull參數的方法。

背景技術

目前獲取功放器件load pull參數主要通過專用的儀器套件(以下統稱“專用測試系統”)來獲取。

專用測試系統通過改變電路的偏壓(Bias)及調整Tuner所對應的匹配阻抗值，觀察待測器件(DUT)的輸出功率、效率、信號質量等電氣參數的變化，從而得到待測器件的load pull參數。

專用測試系統進行測試之前，需要首先對高頻導線、轉接頭、輸入輸出阻抗調諧器(Input tuner\output tuner)等組件進行S參數(S－parameter)進行測量，再將相關數據輸入到測量系統的軟件中。此后接著完成整個系統的S參數校準、功率校準等一系列校準工作，才能夠進行測試。

測試時，系統在選定的阻抗區域內進行掃描，改變輸入輸出阻抗調諧器的阻抗值，記錄待測物理量(如Power consumption、EVM等)的對應變化，即得到了DUT的load pull參數。為了找到性能最佳的阻抗值，可能需要進行多次的掃描。

上述自動測試系統的不足點在于：

1、專用測試系統測試電氣參數需要使用系統自身的信號源產生信號，而絕大多數產品成品不會預留給外界注入信號的測試接口，因此通常需要為每個射頻功放定制一個測試印制電路板，除了占用一個印制電路板的設計周期外，還會造成一定的資源浪費及額外環境污染。

2、要將專用測試系統測試到的load pull數據應用到任何一個產品上，都必須要經過這樣的步驟：(1)選取load pull數據點；(2)反復調整匹配網絡參數，將射頻功放的負載阻抗調到該數據點的阻抗值上；(3)確認電氣參數是否滿足要求，如果滿足要求則結束，否則回去執行步驟(2)。因此專用測試系統測試到的load pull參數不能直接應用在測試中使用的產品成品上，load pull參數應用到產品時的調試時間較長。

發明內容

針對上述問題，本發明的目的在于提供一種獲取射頻功放load pull參數的方法，使用產品成品測試，無需為每個DUT定制一個測試印制電路板，縮短了測試周期，節約了資源，避免了額外的環境污染。

為了實現上述目的，本發明實施例提供了一種獲取射頻功放load pull參數的方法，包括：

S1，判斷配置有相同的射頻功放的N個產品成品中，是否有至少一個產品成品屬于確定優良產品，若是則執行S2，否則執行S4；所述確定優良產品是指配置有已經調試到滿足預設的電氣參數性能要求的射頻功放的產品成品；

S2，用阻抗參數系統獲取其中每個確定優良產品的射頻功放的負載阻抗值，以及用電氣參數系統測量每個確定優良產品的射頻功放在有源條件下的電氣參數；

S3，整合測量得到的每個確定優良產品的負載阻抗值和電氣參數，得到所述射頻功放的load pull參數；

S4，從所述N個產品成品中選取一個產品成品作為待測產品成品，并為所述待測產品成品選取一組網絡匹配參數；