[發明專利]超高分辨率合成孔徑雷達圖像分類方法有效
| 申請號: | 201710173873.6 | 申請日: | 2017-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN107103282B | 公開(公告)日: | 2020-05-26 |
| 發明(設計)人: | 李新武;吳文瑾 | 申請(專利權)人: | 中國科學院遙感與數字地球研究所 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京得信知識產權代理有限公司 11511 | 代理人: | 袁偉東 |
| 地址: | 100094*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 超高 分辨率 合成孔徑雷達 圖像 分類 方法 | ||
1.一種超高分辨率合成孔徑雷達圖像分類方法,其特征在于,
包括以下步驟:
圖像獲取步驟,利用超高分辨率合成孔徑雷達獲取超高分辨率合成孔徑雷達圖像;
特征譜取得步驟,根據所述超高分辨率合成孔徑雷達圖像取得4類特征譜,分別是相關曲線、頻譜、徑向譜和角度譜;
特征集提取步驟,基于所述特征譜提取均值、方差、偏度、頻譜中心、頻譜通量、徑向譜中心、徑向譜通量、相鄰相關曲線峰值距離、角度譜的最大峰對應角度這9個特征參量形成特征集;以及
非監督分類步驟,基于所述特征集對所述超高分辨率合成孔徑雷達圖像進行分類,
其中,
所述相關曲線為像素距離r從最小可能的距離到最大可能距離變化時由相關函數C(r)形成的曲線,相關函數C(r)表示為
式中,M和N分別表示圖塊的行列數,表示圖塊散射強度的均值
當P[i,j]和P[m,n]之間距離為r時,d[i,j;m,n]=1,否則等于0,D表示圖塊中距離為r的像素對總量;
所述頻譜通過根據以下公式取得
其中,p和q分別代表行和列方向的波數,
并采用代替F;
所述徑向譜通過將所述頻譜分為不同半徑的同心圓,并分別對每個同心圓圓周的頻譜值求和取得;
所述角度譜通過將[0°,180°]分割成若干區間,計算從第一個區間到最后一個區間的角度譜A(t)值形成,
其中,角度范圍為t∈[t1,t2]的角度譜值可以表示為
當像元[p,q]在區間t內時,a[p,q]等于1,否則等于0;
譜中心代表能量在特征譜中集中的位置,表現譜的能量分布;特征譜通量用于表征特征譜的光滑性,它計算的是相鄰位置間特征譜值強度的差異;徑向譜為一維譜;頻譜為二維譜。
2.根據權利要求1所述的超高分辨率合成孔徑雷達圖像分類方法,其特征在于,
所述徑向譜R(rr)可以表示為
當像素[p,q]距離圓心為rr時,dd[p,q]等于1,否則為0,徑向譜為rr從0變化到最大可能的半徑時由R形成的曲線。
3.根據權利要求1所述的超高分辨率合成孔徑雷達圖像分類方法,其特征在于,
在所述特征集提取步驟中,根據一維譜中心計算公式取得所述徑向譜中心,
其中,T代表一維特征譜的長度,t代表一維特征譜中的位置。
4.根據權利要求1所述的超高分辨率合成孔徑雷達圖像分類方法,其特征在于,
在所述特征集提取步驟中,根據二維譜中心計算公式取得所述頻譜中心,
其中,T1和T2代表二維特征譜在每一維度的長度,t1和t2代表二維特征譜中的坐標。
5.根據權利要求1所述的超高分辨率合成孔徑雷達圖像分類方法,其特征在于,
在所述特征集提取步驟中,根據一維特征譜通量計算公式提取所述徑向譜通量,包括以下子步驟:
歸一化子步驟,對一維特征譜進行歸一化處理;以及
計算子步驟,通過以下公式計算取得一維特征譜通量
S’代表歸一化的一維特征譜。
6.根據權利要求5所述超高分辨率合成孔徑雷達圖像分類方法,其特征在于,
在所述特征集提取步驟中,所述頻譜通量提取還包括重排子步驟,將頻譜重排為一維特征譜。
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