[發明專利]Bayer圖像的去壞像素方法在審
| 申請號: | 201710170382.6 | 申請日: | 2017-03-21 |
| 公開(公告)號: | CN106952238A | 公開(公告)日: | 2017-07-14 |
| 發明(設計)人: | 張佳祎;程杰;劉志碧;陳杰 | 申請(專利權)人: | 北京思比科微電子技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T7/90 |
| 代理公司: | 北京凱特來知識產權代理有限公司11260 | 代理人: | 鄭立明,鄭哲 |
| 地址: | 100085 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | bayer 圖像 像素 方法 | ||
1.一種Bayer圖像的去壞像素方法,其特征在于,包括:
以圖像中的一像素點作為中心像素選取N×M的Bayer矩陣;
計算Bayer矩陣中與中心像素相同通道的其他像素的亮度極值或者亮度次極值;
根據亮度極值或者亮度次極值判斷中心像素是否為壞像素;
若是,則利用亮度極值或者亮度次極值對中心壞像素進行替換;或者,利用Bayer矩陣中各個通道每個方向的梯度對中心壞像素進行替換。
2.根據權利要求1所述的一種Bayer圖像的去壞像素方法,其特征在于,所述Bayer矩陣包括:
第一行中心像素點為R分量的Bayer矩陣;
或者,第一行中心像素點為B分量的Bayer矩陣;
或者,第一行中心像素點為G分量且該行包含R分量的Bayer矩陣;
或者,第一行中心像素點為G分量且該行包含B分量的Bayer矩陣。
3.根據權利要求1所述的一種Bayer圖像的去壞像素方法,其特征在于,所述計算Bayer矩陣中與中心像素相同通道的其他像素的極值或者次極值包括:
計算與中心像素相同通道的其他像素的亮度極大值與亮度極小值,或者亮度次大值與亮度次小值。
4.根據權利要求1所述的一種Bayer圖像的去壞像素方法,其特征在于,所述根據極值或者次極值判斷中心像素是否為壞像素包括:
假設中心像素的亮度值為Y,亮度極大值、亮度極小值、亮度次大值、亮度次小值依次記為:Max1、Min1、Max2、Min2;
判斷方法如下:
若Y>Max1,則判定中心像素為白像素,若Y<Min1,則判定中心像素為黑像素;否則,判定中心像素為正常像素;
或者,若Y>Max2,則判定中心像素為白像素,若Y<Min2,則判定中心像素為黑像素;否則,判定中心像素為正常像素;
或者,Y>k×Max1+offset,則判定中心像素為白像素,若Y<k×Min1+offset,則判定中心像素為黑像素;否則,判定中心像素為正常像素;
或者,Y>k×Max2+offset,則判定中心像素為白像素,若Y<k×Min2+offset,則判定中心像素為黑像素;否則,判定中心像素為正常像素;
其中,k為線性系數,offset為補償系數。
5.根據權利要求1所述的一種Bayer圖像的去壞像素方法,其特征在于,計算Bayer矩陣中各個通道每個方向的梯度包括:
如果為2×9的Bayer矩陣,則計算公式如下:
水平梯度:Grad_H=3×(|Y17–Y11|+|Y19–Y13|+|Y27–Y21|+|Y29–Y23|)+(|Y16–Y12|+|Y18–Y14|+|Y26–Y22|+|Y28–Y24|);
垂直梯度:Grad_V=3×(|Y21–Y11|+|Y23–Y13|+|Y27–Y17|+|Y29–Y19|)+(|Y22–Y12|+|Y24–Y14|+|Y26–Y16|+|Y28–Y18|);
其中,上面各個參數下標第一位與第二位分別為像素的行、列號,Y為相應像素的亮度值。
6.根據權利要求5所述的一種Bayer圖像的去壞像素方法,其特征在于,利用亮度極值或者亮度次極值對中心壞像素進行替換;或者,利用Bayer矩陣中各個通道每個方向的梯度對中心壞像素進行替換包括:
將亮度極大值、亮度極小值、亮度次大值、亮度次小值依次記為:Max1、Min1、Max2、Min2;
若中心像素為白像素,則令Ynew=Max1;若為黑像素,則令Ynew=Min1;
或者,若中心像素為白像素,則令Ynew=Max2;若為黑像素,則令Ynew=Min2;
或者,若中心像素為白像素或者黑像素,且Grad_H>Grad_V時,計算水平梯度替代值Grad_H'=(3×(Y13+Y17)+(Y11+Y19))/8,并令Ynew=Grad_H';
或者,若中心像素為白像素或者黑像素,且Grad_H≤Grad_V時,計算垂直梯度替代值Grad_V'=Y25+(3×(Y23+Y27)+(Y21+Y29))/8–(3×(Y13+Y17)+(Y11+Y19))/8,并令Ynew=Grad_V'。
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