[發明專利]用于自動記錄存儲器冗余頁錯誤地址的測試裝置及方法在審
| 申請號: | 201710165743.8 | 申請日: | 2017-03-20 |
| 公開(公告)號: | CN108630283A | 公開(公告)日: | 2018-10-09 |
| 發明(設計)人: | 董宇;季雨;張章;喬瑛 | 申請(專利權)人: | 北京同方微電子有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/12 | 分類號: | G11C29/12;G11C29/18;G11C29/44 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100083 北京市海淀區五*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 冗余 替換 存儲器 錯誤地址 自動記錄 地址加密單元 存儲器冗余 測試裝置 校驗單元 校驗 寄存器 安全存儲器 存儲器訪問 替換存儲器 測試操作 錯誤信號 功能校驗 加密處理 軟件程序 物理地址 物理空間 硬件實現 自動識別 頁地址 省時 記錄 出錯 掃描 保存 | ||
1.一種自動記錄存儲器冗余頁錯誤地址的測試裝置,其特征在于,該測試裝置包括地址加密單元、硬件校驗單元、冗余頁替換控制單元和存儲器,其中,
地址加密單元依次連接硬件校驗單元和冗余頁替換控制單元,用于對測試指令中的測試操作地址進行加密處理;
硬件校驗單元連接冗余頁替換控制單元,用于接收加密地址,并對存儲器的物理空間進行功能校驗,當校驗到存儲器的壞頁時,存儲器校驗出錯,硬件校驗單元生成校驗錯誤信號;
冗余頁替換控制單元內含冗余頁替換記錄寄存器,用于接收硬件校驗單元發送的校驗錯誤信號,并將校驗出錯的存儲器物理地址標記為錯誤地址,自動記錄該錯誤地址后,存入冗余頁替換記錄寄存器中;
存儲器與硬件校驗單元相互連接,存儲器正常使用時,當訪問到存儲器的壞頁時,冗余頁替換控制單元自動識別冗余頁替換記錄寄存器中保存的錯誤地址,并自動使用存儲器中的冗余頁替換存儲器的壞頁,完成冗余頁替換。
2.一種自動記錄存儲器冗余頁錯誤地址的測試方法,其特征在于,所述測試方法在地址加密單元、硬件校驗單元、冗余頁替換控制單元和存儲器組成的存儲器測試裝置上執行,具體步驟如下:
1)存儲器校驗操作開始后,外部接口發送包含測試操作地址的測試指令,地址加密單元接收包含測試操作地址的測試指令;
2)地址加密單元對測試指令中的測試操作地址進行加密處理,生成加密地址,然后將加密地址發送到硬件校驗單元;
3)硬件校驗單元接收加密地址,并對存儲器的物理空間進行功能校驗;
4)當校驗到存儲器的壞頁時,存儲器校驗出錯,硬件校驗單元生成校驗錯誤信號;
5)冗余頁替換控制單元接收硬件校驗單元發送的校驗錯誤信號,并根據校驗錯誤信號,將校驗出錯的存儲器物理地址標記為錯誤地址,自動記錄該錯誤地址后,存入冗余頁替換記錄寄存器中;
6)存儲器正常使用時,訪問到存儲器的壞頁時,冗余頁替換控制單元自動識別冗余頁替換記錄寄存器中保存的錯誤地址,并自動使用存儲器中的冗余頁替換存在的壞頁,完成冗余頁替換。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京同方微電子有限公司,未經北京同方微電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710165743.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:裸芯上信號校準
- 下一篇:使用存儲器內置自測的存儲器保護電路測試和存儲器擦洗





