[發明專利]一種體積測量儀及其測量方法

在審

• 申請號: 201710164721.X
• 申請日: 2017-03-20
• 公開（公告）號: CN108627211A
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發明（設計）人: 王禮勇
• 申請（專利權）人: 深圳市力得得力技術有限公司
• 主分類號: G01F17/00
• 分類號: G01F17/00
• 代理公司: 深圳市韋恩肯知識產權代理有限公司 44375
• 代理人: 李玉平

1.一種體積測量儀，用于測量包裹體積參數，其特征在于，包括平臺、設置于平臺一側且垂直向上延伸的支撐桿、設置于所述支撐桿上遠離平臺端的且用于測量包裹高度的高度測量模塊、設置于平臺內的且用于測量包裹水平方向截面長寬值的截面積測量模塊、設置于平臺一側且用于控制所述高度測量模塊和所述截面積測量模塊工作以及計算測量值的控制模塊、設置于平臺一側且用于顯示所述測量值的顯示模塊。

2.根據權利要求1所述的一種體積測量儀，其特征在于，所述高度測量模塊為超聲波探測儀，所述超聲波探測儀安裝于所述支撐桿頂端。

3.根據權利要求1所述的一種體積測量儀，其特征在于，所述截面積測量模塊包括固定于所述平臺內的光探測裝置、覆蓋所述光探測裝置且固定于所述平臺上的玻璃罩。

4.根據權利要求3所述的一種體積測量儀，其特征在于，所述光探測裝置包括固定于所述平臺內的陳列板以及陣列設置于所述陳列板上的光敏二極管，所述光敏二極管通過電路與所述控制模塊電連接。

5.根據權利要求1所述的一種體積測量儀，其特征在于，所述控制模塊包括控制所述高度測量模塊和所述截面積測量模塊工作的開關、以及計算所述測量體積的芯片。

6.根據權利要求5所述的一種體積測量儀，其特征在于，所述開關為按鈕開關。

7.根據權利要求1所述的一種體積測量儀，其特征在于，所述顯示模塊為液晶屏。

8.一種體積測量儀的測量方法，其特征在于，

步驟a：接通電源；

步驟b:所述體積測量儀自檢；

步驟c:將被測量包裹放置在截面積測量模塊上；

步驟d：所述檢測儀檢測到有包裹，所述高度測量模塊測量包裹的高度，截面積測量模塊測量包裹水平面的的長度與寬度

步驟e:芯片收集所述高度和水平截面的長度與寬度值；

步驟f:所述顯示模塊顯示所述測量到的長度值、寬度值以及高度值。

9.根據權利要求8所述的一種測量方法，其特征在于，所述步驟e,當被測包裹為規則形狀時，所述體積通過長度值乘寬度值乘高度高度值計算得出。

10.根據權利要求8所述的一種測量方法，其特征在于，所述步驟e,當被測包裹為不規則形狀時，所述水平面積的長度值和寬度值分別通過點數據法計算得出，所述體積通過長度值乘寬度值乘高度值得出。