[發明專利]受激輻射損耗顯微裝置有效
| 申請號: | 201710162052.2 | 申請日: | 2017-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN106841149B | 公開(公告)日: | 2021-05-28 |
| 發明(設計)人: | 王富;張輝;喬丙閃;張曉蕾 | 申請(專利權)人: | 王富 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京中政聯科專利代理事務所(普通合伙) 11489 | 代理人: | 韓璐 |
| 地址: | 313300 浙江省湖州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 輻射 損耗 顯微 裝置 | ||
1.一種受激輻射損耗顯微裝置,其特征在于,包括:飛秒激光器、偏振分光棱鏡、晶體光纖和熒光探測器,飛秒激光器發出的激光透過所述偏振分光棱鏡后分為第一激光光束和第二激光光束,所述第一激光光束進入第一光路,所述第二激光光束進入第二光路,所述晶體光纖設在所述第一光路中;所述第一激光光路中設有位于所述晶體光纖之前的第二半波片和第一凸透鏡;所述第二光路中設有第三凸透鏡和相位板;
所述第一激光光束依次透過第二半波片和第一凸透鏡后,進入所述晶體光纖,激發所述晶體光纖輸出激發光;所述第二半波片用于使所述第一激光光束與所述晶體光纖的偏振性一致,所述第一凸透鏡用于將所述第一激光光束聚焦在晶體光纖上;
所述第二激光光束依次透過所述第三凸透鏡和所述相位板后,形成環形的STED光;所述第三凸透鏡用于對所述第二激光光束擴束;
所述激發光和所述STED光經反光鏡重疊為同軸光線后進入第三光路,所述第三光路的末端設有載物臺;
所述熒光探測器用于經第四光路探測位于載物臺上熒光樣品發出的熒光;
所述第一光路和/或所述第二光路中還設有光程調節器;
所述飛秒激光器和所述偏振分光鏡之間設有第一半波片;
所述第一光路中,位于所述晶體光纖后方,還依次設有第二凸透鏡、第一起偏鏡和第三半波片;所述第二光路中設有脈沖拉寬裝置,所述脈沖拉寬裝置設于所述相位板的前方,STED光是飛秒激光,把脈沖寬度拉寬到200到300皮秒,脈沖拉寬裝置裝置使用30厘米長的高折射率玻璃棒G和100米長的保偏單模光纖R,高折射率玻璃棒G將脈沖寬度先拉寬到皮秒級,之后將STED光導入100米長的保偏單模光纖R進一步拉寬到300皮秒;
從晶體光纖中出來的超連續光譜先用第三雙色鏡分為兩個波段的光譜,分別進入第一子光路和第二子光路,然后再分別使用第一子光路中設置的第一濾鏡和第二子光路中設置的第三濾鏡選取合適的激發波長;
第二子光路中的激發光經第二反射鏡和第四雙色鏡反射后,與第一子光路中的激發光和第二光路中的STED光重疊成同軸光束,它的偏振性可由第三起偏鏡、第五半波片和第三四分之一玻片調節;
樣品的熒光穿過第二四分之一玻片、第二雙色鏡和第四雙色鏡,由第三反射鏡發射到第五雙色鏡上,可將按不同的激發類別,將熒光分為兩部分一部分經第二濾鏡、第四凸透鏡、第一多模光纖后,由第一探測器采集,另一部分經第四濾鏡、第五凸透鏡、第二多模光纖后,由第二探測器采集。
2.根據權利要求1所述的受激輻射損耗顯微裝置,其特征在于,所述第二光路中還設有位于所述相位板前方的第二起偏鏡。
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