[發明專利]隧道式電容自動老化測試機在審
| 申請號: | 201710158623.5 | 申請日: | 2017-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN107102222A | 公開(公告)日: | 2017-08-29 |
| 發明(設計)人: | 黃穎輝 | 申請(專利權)人: | 南通大學 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R31/44 |
| 代理公司: | 北京輕創知識產權代理有限公司11212 | 代理人: | 談杰 |
| 地址: | 226000 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 隧道 電容 自動 老化 測試 | ||
技術領域
本發明涉及電容老化測試技術領域,尤其涉及隧道式電容自動老化測試機。
背景技術
電容算是一個消耗性的元器件,在電路里面是不可缺少的元件。通常電容要是受過壓,過熱以及電化學腐蝕都會導致電容的老化,具體表現為充放電的時間會很短,甚至會被擊穿,造成電解質的泄露而固化造成直接的短路,原理是:不管是過壓還是過熱都會讓電容里面電解粒子的流動超乎異常的活躍,從而形成逃逸極板的沖壓,尤其是過熱,這種現象更為明顯,直接表現為電容燒掉,發黑,在某種程度上過壓也會直接導致過熱現象。
LED元器件在使用過久的情況下,會產生老化現象但是生活中,只要是LED元器件,比如LED燈壞了的情況下,人們就會更換并且扔掉壞了的,但是這樣則會造成資源浪費,重則造成環境污染,因此,解決方法就是需要對這些元器件進行回收再利用,但是又要考慮LED元器件的損壞問題,檢測是否是老化造成的,現有的技術對于這一塊卻得不到很好的處理。
發明內容
本發明的目的是為了解決現有技術中存在的缺點,而提出的隧道式電容自動老化測試機。
為了實現上述目的,本發明采用了如下技術方案:隧道式電容自動老化測試機,包括隧道箱,所述隧道箱的兩側連接有操作臺,所述操作臺的上壁安裝有傳送滾軸,且隧道箱的一側外壁安裝有LED燈組,所述隧道箱的上壁兩側設有影像傳感器,且隧道箱的前壁一側設有觸控屏,所述隧道箱的前壁另一側下方設有開關按鈕,且隧道箱的下方固定有支腳,所述支腳之間通過支桿進行連接,所述操作臺的下方安裝有電配箱,所述電配箱的前壁固定有柜門,所述柜門通過卡扣固定在電配箱上,所述柜門的外壁一側設有鑰匙孔。
作為上述技術方案的進一步描述:
所述隧道箱的內部以3-5cm間隔安裝有高溫燈管,所述高溫燈管之間電導頭,所述電導頭之間連接有勵磁線圈。
作為上述技術方案的進一步描述:
所述支腳共設置有四個,且四個支腳均勻焊接在隧道箱的下方四個拐角處。
作為上述技術方案的進一步描述:
所述開關按鈕的輸出端與觸控屏的輸入端電性連接。
作為上述技術方案的進一步描述:
所述影像傳感器共設置有四個,且以兩個一組分別嵌設在隧道箱的上壁兩側處。
作為上述技術方案的進一步描述:
所述開關按鈕的輸出端與影像傳感器的輸入端電性連接。
本發明中,該隧道式電容自動老化測試機,其主要通過隧道箱和操作臺組成,LED元器件放置在右側操作臺,經由傳送滾軸傳送到隧道箱中,通過隧道箱內的高溫燈管迅速發熱和勵磁線圈瞬間產生高壓,使得LED元器件處于高溫高壓的環境中,通過設置的程序來控制其置于隧道箱中的時間,以保證LED元器件可以達到過壓和過熱的狀態,通過影像傳感器的進出影像分析,從而判斷LED元器件是否老化,該隧道式LED元器件電容自動老化測試機結構簡單,設計合理,自動化運行,工作效率高值得大力推廣。
附圖說明
圖1為本發明提出的隧道式電容自動老化測試機的外觀結構示意圖;
圖2為本發明提出的隧道式電容自動老化測試機隧道箱內部結構示意圖。
圖例說明:
1-操作臺、2-傳送滾軸、3-LED燈組、4-隧道箱、5-影像傳感器、6-卡扣、7-電配箱、8-柜門、9-鑰匙孔、10-支腳、11-支桿、12-觸控屏、13-開關按鈕、14-電導頭、15-勵磁線圈、16-高溫燈管。
具體實施方式
下面將結合本發明實施例中的附圖,對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例,而不是全部的實施例。
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