[發明專利]一種支架上的玻璃平面尺寸測量裝置及方法

有效

• 申請號: 201710157581.3
• 申請日: 2017-03-16
• 公開（公告）號: CN106643511B
• 公開（公告）日: 2019-02-12
• 發明（設計）人: 何濤;吳慶華;王正家;周偉松;何博;李明;盛文婷;余坤;朱思斯
• 申請（專利權）人: 湖北工業大學
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 魏波

本發明公開了一種支架上的玻璃平面尺寸測量裝置及方法，裝置由圖像采集系統和機械行走機構組成；圖像采集系統包括激光器、相機、投影板和測量支架；相機和投影板水平固定在測量支架上，激光器角度可調地設置在測量支架上；機械行走機構包括橫向導軌、縱向導軌架、橫向電機、縱向電機；縱向導軌固定設置在橫向導軌上，與橫向導軌成十字交叉狀；測量支架垂直固定在縱向導軌上，橫向電機、縱向電機分別控制橫向導軌、縱向導軌移動。裝置工作時，啟動圖像采集系統和機械行走機構，橫、縱向電機在外部控制系統的指令下，帶著相機和激光器移動，與此同時相機開始連續采圖，根據獲得的圖像數據計算玻璃的尺寸。本發明能測量單塊及多塊重疊的玻璃尺寸。

技術領域

本發明屬于幾何尺寸測量技術領域，涉及一種支架上的玻璃平面尺寸測量裝置及方法，具體涉及一種利用玻璃反射特性的測量支架上單個及重疊玻璃的平面尺寸測量裝置及方法。

背景技術

目前，常用的激光投射法是一種非接觸式平面物體尺寸的測量方法，是將激光按測量要求投射到被測物上，通過測量激光投射線線段長度得出被測尺寸。但是當被測物為透明玻璃時，此方法一般只適合單塊玻璃的尺寸測量。因為若測量多塊重疊玻璃時，由于光在重疊玻璃間透射及反射形成多條條紋，無法準確得到被測玻璃的投射線段，因此，很難測量出玻璃的尺寸。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種能測量單個及重疊玻璃的平面尺寸的測量裝置及方法。

本發明的裝置所采用的技術方案是：一種支架上的玻璃平面尺寸測量裝置，其特征在于：由圖像采集系統和機械行走機構組成；

所述圖像采集系統包括激光器、相機、投影板和測量支架；所述相機和投影板水平固定在測量支架上，所述激光器角度可調地設置在所述測量支架上；

所述機械行走機構包括橫向導軌、縱向導軌、橫向電機、縱向電機；所述縱向導軌固定設置在所述橫向導軌上，與所述橫向導軌成十字交叉狀；所述測量支架垂直固定在縱向導軌上，所述橫向電機、縱向電機分別控制所述橫向導軌、縱向導軌的移動。

本發明所采用的測量方法是：一種支架上的玻璃平面尺寸測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1：激光器將一束線性光照在被測玻璃面上，光線與玻璃右邊緣的交點記為A，通過投影反射后在投影板上形成的標記點為點A′；

步驟2：外部控制系統控制橫向電機移動，當線性光與玻璃另一邊緣交點B相遇時，其通過投影反射后在投影板上形成的標記點為B′，記此時橫向電機帶動測量支架在橫向導軌上移動的距離為S，在移動過程中相機連續采圖；

步驟3：計算點A′和B′的坐標A′(x_a，y_a)、B′(x_b，y_b)，計算線性光與玻璃邊緣兩交點之間的長度，得出對應玻璃的長度尺寸L；

步驟4：同理計算得到玻璃的寬度尺寸。

與現有技術相比，本發明的有益效果主要體現在：能完成重疊玻璃的平面尺寸測量；高效、快捷、無光污染、測量重復性好，測量精度至少能到達0.1mm；以此方法構成的測量裝置結構簡單，易于控制，保證了最終數據測量的準確性。

附圖說明

圖1為本發明實施例的裝置主視圖；

圖2為本發明實施例的裝置俯視圖；

圖3為本發明實施例的方法原理圖；

其中：1玻璃，2.線性光源(激光器)，3.相機，4.投影板，5.測量支架，6.橫向電機，7.橫向導軌，8.縱向導軌，9.縱向電機，10.玻璃支架。

具體實施方式