[發(fā)明專利]一種平面整流二極管芯片的制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710157318.4 | 申請日: | 2017-03-16 |
| 公開(公告)號: | CN106783605A | 公開(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 焦丹鈞;朱瑞;鄒亦鳴;吳堅;徐永斌 | 申請(專利權(quán))人: | 江陰新順微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329;H01L29/861 |
| 代理公司: | 江陰市同盛專利事務(wù)所(普通合伙)32210 | 代理人: | 唐紉蘭,沈國安 |
| 地址: | 214434 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 平面 整流二極管 芯片 制造 方法 | ||
1.一種平面整流二極管芯片的制造方法,其特征在于:所述芯片包括N型單晶硅(2),在N型單晶硅(2)的背面通過高濃度磷摻雜擴(kuò)散的方式形成N+重?fù)诫s襯底陰極區(qū)(1),在N型單晶硅(2)的正面一側(cè)通過高濃度硼摻雜擴(kuò)散的方式形成P+陽極區(qū)(3),另一側(cè)通過高濃度磷摻雜擴(kuò)散的方式形成N+截止環(huán)區(qū)(4),在N型單晶硅(2)的正面淀積一層SIPOS鈍化層(5),所述SIPOS鈍化層(5)的底部兩側(cè)搭接于P+陽極區(qū)(3)和N+截止環(huán)區(qū)(4)上,在SIPOS鈍化層(5)的正面依次向上淀積相同面積的第一二氧化硅介質(zhì)層(6)、磷硅玻璃介質(zhì)層(7)和第二二氧化硅介質(zhì)層(8),所述SIPOS鈍化層(5)、第一二氧化硅介質(zhì)層(6)、磷硅玻璃介質(zhì)層(7)和第二二氧化硅介質(zhì)層(8)構(gòu)成高反壓終端保護(hù)膜,在所述P+陽極區(qū)(3)和N+截止環(huán)區(qū)(4)的正面露出部分、高反壓終端保護(hù)膜的兩側(cè)及正面兩側(cè)區(qū)域包覆有金屬電極層(9),在所述高反壓終端保護(hù)膜和金屬電極層(9)的正面涂覆有聚酰亞胺鈍化層(10),所述方法包括以下步驟:
步驟一:在N型單晶硅一側(cè)進(jìn)行高濃度磷摻雜擴(kuò)散,形成平面整流二極管芯片的N+重?fù)诫s襯底陰極區(qū);
步驟二:在N型單晶硅另一側(cè)進(jìn)行高濃度硼和高濃度磷的摻雜擴(kuò)散,形成平面整流二極管芯片的P+陽極區(qū)和N+截止環(huán)區(qū);
步驟三:將前面硅表面生長的二氧化硅層通過酸處理的方式全部泡除,并采用低壓化學(xué)氣相淀積在硅表面淀積一層SIPOS鈍化層;
步驟四:通過常壓化學(xué)氣相淀積在SIPOS鈍化層上面淀積一層二氧化硅介質(zhì)層、一層磷硅玻璃介質(zhì)層、一層二氧化硅介質(zhì)層;
步驟五:通過刻蝕的方法將平面整流二極管芯片P+陽極區(qū)的金屬電極引線孔刻出,通過金屬淀積及金屬刻蝕的方法刻蝕出金屬電極層,最后形成平面整流二極管芯片的陽極;
步驟六:在平面整流二極管芯片的最外層涂覆一層聚酰亞胺光刻膠,通過光刻、顯影以及高溫固化工藝,最后形成聚酰亞胺鈍化層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面整流二極管芯片的制造方法,其特征在于:所述N+重?fù)诫s襯底陰極區(qū)的摻雜濃度為:0.3-0.5Ω/□,摻雜深度為:170-200μm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面整流二極管芯片的制造方法,其特征在于:所述P+陽極區(qū)的摻雜濃度為:18-28Ω/□,摻雜深度為:15-30μm;N+截止環(huán)區(qū)的摻雜濃度為:8-10Ω/□,摻雜深度為:4-10μm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面整流二極管芯片的制造方法,其特征在于:所述低壓化學(xué)氣相淀積是將硅烷和笑氣按照6:1-2:1的氣體流量比例,在600℃-700℃的溫度下進(jìn)行反應(yīng),所述SIPOS鈍化層的厚度范圍為0.2μm~0.6μm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面整流二極管芯片的制造方法,其特征在于:所述常壓化學(xué)氣相淀積是將硅烷、磷烷和氧氣按照2:5:30的氣體流量比例,在400℃-500℃的溫度下進(jìn)行反應(yīng),三層介質(zhì)層的厚度范圍均為:0.1μm~0.5μm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面整流二極管芯片的制造方法,其特征在于:步驟五中對前面生長的多層介質(zhì)層進(jìn)行高溫退火工藝,按氧氣和氯化氫80:1-40:1的氣體流量比例,在1000-1100℃的溫度進(jìn)行作業(yè)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種平面整流二極管芯片的制造方法,其特征在于:步驟七中的高溫固化溫度為300℃,所述聚酰亞胺鈍化層的厚度范圍為1μm~5μm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





