[發明專利]一種通用型微細探針測試治具

在審

• 申請號: 201710152886.5
• 申請日: 2017-03-06
• 公開（公告）號: CN106855580A
• 公開（公告）日: 2017-06-16
• 發明（設計）人: 吳兆正
• 申請（專利權）人: 昆山鴻裕電子有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R31/02;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

一種電性測試治具屬于電性測試技術領域，主要涉及一種通用型微細探針測試治具。

背景技術

電性能測試主要是測試基板線路的導通性(Continuity)及絕緣性(Isolation)，導通性測試是指通過測量同一網絡內結點間的電阻值是否小于導通閥值從而判斷該線路是否有斷開現象，即通常所說的開路；絕緣測試是指通過測量不同網絡的結點間的電阻值是否大于絕緣閥值從而判斷絕緣網絡是否有短路現象。隨著線路密度的增加，電性能測試的難度也雖之增加，相繼產生了新的測試技術以應對PCB行業的發展。導致測試難度增加的主要因素有：基板表面的PAD大小、PAD跨距(Pitch)、導線間距縮小使導通孔徑縮小，PAD表面鍍層的壓痕限制、測量阻值精度要求的提高、測試速度要求的提高等因素。

現有技術中的電性測試治具由于傳統結構的限制，不具有通用性，適用性差，測量精度差。

發明內容

為了解決上述問題，本發明公開了一種通用型微細探針測試治具，不僅結構簡單、測量精度高，通用性強。

本發明的目的是這樣實現的：

一種通用型微細探針測試治具，包括若干測試細針和由上至下依次布置的針盤面、至少一塊移動板和底座，所述針盤面、移動板和底座上均設有針孔，所述針盤面與移動板之間設有導向板，導向板上設有導向孔，測試細針的一端依次穿過移動板和底座的針孔，測試細針的另一端通過導向孔連接針盤面。

所述導向板上的導向孔的排布方式與待測板的待測點位置匹配對應。

與待測板的待測點對應的導向孔至少為一個，此為防止線路印刷偏移、鉆孔不準、板面不潔、測試針損耗、誤判等現象。

所述導向孔的中軸線與豎直方向呈一定角度，所述角度的銳角范圍為0°-90°，可以根據不同情況與待測板進行接觸。

所述測試細針的直徑范圍為0.05mm-0.1mm之間，細針與傳統測試治具的探針相比，極為纖細，觸點更為全面，檢測精細度高。

所述針孔和導向孔的孔徑為0.2mm，對測試細針起到良好的疏導變向作用；

所述移動板和導向板的厚度范圍為0.5mm-0.8mm之間，相鄰兩移動板之間距離與移動板厚度的比值范圍為8∶1-10∶1，對于細針的調控效果更為精確。

所述移動板與導向板之間的距離與移動板厚度的比值范圍為8∶1-10∶1。

本發明與現有技術相比，具有如下有益效果：本發明的結構簡單，可以通用各式IC載板、PCB板、FPC板、HDL板以及各式精細線路板類短、斷路的電性測試，可模組化適應數百種不同機種電性測試，也可量身定做單一新型電性測試，本發明也可用于高端電子、電機設備的功能電性測試、智能手機、OLED電燈的電性測試，本發明通用性強，適用性更為廣泛。

附圖說明

圖1是本發明的整體結構示意圖；

圖2是圖1中A部分的放大示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明具體實施方式作進一步詳細描述。

本實施例的一種通用型微細探針測試治具，包括若干測試細針4和由上至下依次布置的針盤面1、至少一塊移動板2和底座7，所述針盤面1、移動板2和底座上均設有針孔6，所述針盤面1與移動板2之間設有導向板3，導向板3上設有導向孔5，測試細針4的一端依次穿過移動板2和底座的針孔，測試細針4的另一端通過導向孔5連接針盤面。

所述導向板3上的導向孔5的排布方式與待測板的待測點位置匹配對應。

與待測板的待測點對應的導向孔5至少為一個。

所述導向孔5的中軸線與豎直方向呈一定角度。

所述角度的銳角范圍為0°-90°。

所述測試細針4的直徑范圍為0.05mm-0.1mm之間。

所述針孔6和導向孔5的孔徑為0.2mm。

所述移動板2和導向板3的厚度為0.8mm，相鄰兩移動板2之間距離與移動板2厚度的比值范圍為10∶1。

所述移動板2與導向板3之間的距離與移動板2厚度的比值范圍為10∶1。

所述治具組裝完成后再與另一模塊通用型矩陣式電極通電，完成接觸測試程序；

針盤面1中心的測試孔位設計是以待測板(物)的測點需要而設計

在每一微細測試點上可設計二個以上有不同角度的測試針接觸測試，

此為防止線路印刷偏移、鉆孔不準、板面不潔、測試針損耗、誤判現象。

移動板2的作用在于限制測試針之間的接觸，以及限制測試針移動的方向、尺寸，所述移動板2上的針孔6在針盤面1的電板區域的響應位置處矩形均勻陣列排布；

導向板3的作用在于：測試針需對應共享型電極座的點位，防止因盤面的孔位與電極座的點位不相同造成偏差，出現測量偏差，同時，使本發明更具有通用性。