[發明專利]一種光學斷層掃描裝置在審
| 申請號： | 201710149311.8 | 申請日： | 2017-03-14 |
| 公開（公告）號： | CN106859604A | 公開（公告）日： | 2017-06-20 |
| 發明（設計）人： | 趙新亞 | 申請（專利權）人： | 趙新亞 |
| 主分類號： | A61B5/00 | 分類號： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 271000 *** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光學 斷層 掃描 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種光學斷層掃描裝置，其特征在于，包括一發光單元、一偵測單元、一承載件及一驅動結構；
所述發光單元設置在一待測物的表面上，并發出入射光線至所述待測物的表面下的組織中；
所述偵測單元設置在所述待測物上并接受該待測物表面下的組織對所述入射光線所擴散出的擴散光線，以產生該待測物表面下的組織的感測訊息。
2.根據權利要求1所述的光學斷層掃描裝置，其特征在于，該掃描裝置還包括一定位單元。
3.根據權利要求1所述的光學斷層掃描裝置，其特征在于，該掃描裝置還包括一驅動結構。
4.根據權利要求1所述的光學斷層掃描裝置，其特征在于，所述偵測單元以所述發光單元為中心圍繞該發光單元移動。
5.根據權利要求1所述的光學斷層掃描裝置，其特征在于，所述承載件具有一透光孔，并持續轉動以使該透光孔以所述發光單元為中心圍繞著該發光單元移動。
6.根據權利要求1或5任一項所述的光學斷層掃描裝置，其特征在于，所述偵測單元設置在所述發光單元上方，通過所述透光孔接收所述待測物的表面下組織對入射光線所擴散的擴散光線。
7.根據權利要求6所述的光學斷層掃描裝置，其特征在于，所述承載件上還設置有一凸透鏡。
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