[發(fā)明專利]一種頻率特性測(cè)試儀

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710148771.9
• 申請(qǐng)日: 2017-03-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106814308A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-06-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 不公告發(fā)明人
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南寧市高光信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種頻率特性測(cè)試儀。

背景技術(shù)

在電路測(cè)試中，常常需要測(cè)試頻率特性，電路的頻率特性體現(xiàn)了放大器的放大性能與輸入信號(hào)頻率之間的關(guān)系，頻率特性測(cè)試儀是顯示被測(cè)電路幅頻、相頻特性曲線的測(cè)量?jī)x器。傳統(tǒng)掃頻儀進(jìn)僅價(jià)格昂貴、體積龐大，而且只能顯示幅頻特性曲線，進(jìn)能得到相頻特性曲線，更進(jìn)能打印被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的頻響曲線給使用帶來(lái)諸多進(jìn)便，為此，本發(fā)明提出一種頻率特性測(cè)試儀解決此問(wèn)題。具有測(cè)量范圍寬、精度高、使用方便等特點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種頻率特性測(cè)試儀，以解決現(xiàn)有技術(shù)中導(dǎo)致的上述多項(xiàng)缺陷。

本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種頻率特性測(cè)試儀，包括PC機(jī)、通信接口、單片機(jī)、數(shù)控掃頻信號(hào)源、A/D轉(zhuǎn)換模塊、相位差測(cè)量模塊、被測(cè)電路、峰值檢波和衰減，所述PC機(jī)通過(guò)通信接口與單片機(jī)連接；所述數(shù)控掃頻信號(hào)源分別與相位差測(cè)量模塊、被測(cè)電路和衰減連接；所述被測(cè)電路與衰減連接；所述衰減與峰值檢波連接；所述峰值檢波通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換模塊與單片機(jī)連接；所述衰減通過(guò)相位差測(cè)量模塊與單片機(jī)連接。

本發(fā)明的有益效果：

提供了一種頻率特性測(cè)試儀，通過(guò)PC機(jī)上的軟面板輸入測(cè)試信號(hào)的頻率范圍、信號(hào)幅度、掃頻方式和輸入的衰減系數(shù)等參數(shù)，從PC機(jī)接收指令和數(shù)據(jù)，控制掃頻信號(hào)源產(chǎn)生所需要的掃頻信號(hào)，同時(shí)控制幅度測(cè)量和相位差測(cè)量，經(jīng)分析處理，再顯示測(cè)量結(jié)果或打印測(cè)量結(jié)果。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將闡述本發(fā)明的具體實(shí)施方式。

如圖1所示，一種頻率特性測(cè)試儀，包括PC機(jī)1、通信接口2、單片機(jī)3、數(shù)控掃頻信號(hào)源4、A/D轉(zhuǎn)換模塊5、相位差測(cè)量模塊6、被測(cè)電路7、峰值檢波8和衰減9，所述PC機(jī)1通過(guò)通信接口2與單片機(jī)3連接；所述數(shù)控掃頻信號(hào)源4分別與相位差測(cè)量模塊6、被測(cè)電路7和衰減9連接；所述被測(cè)電路7與衰減9連接；所述衰減9與峰值檢波8連接；所述峰值檢波8通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換模塊5與單片機(jī)3連接；所述衰減9通過(guò)相位差測(cè)量模塊6與單片機(jī)3連接。

本發(fā)明，通過(guò)PC機(jī)上的軟面板輸入測(cè)試信號(hào)的頻率范圍、信號(hào)幅度、掃頻方式和輸入的衰減系數(shù)等參數(shù)，從PC機(jī)接收指令和數(shù)據(jù)，控制掃頻信號(hào)源產(chǎn)生所需要的掃頻信號(hào)，同時(shí)控制幅度測(cè)量和相位差測(cè)量，經(jīng)分析處理，再顯示測(cè)量結(jié)果或打印測(cè)量結(jié)果。

以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。