[發明專利]基于熒光磁粉的智能缺陷識別系統在審
| 申請號： | 201710148628.X | 申請日： | 2017-03-14 |
| 公開（公告）號： | CN107145896A | 公開（公告）日： | 2017-09-08 |
| 發明（設計）人： | 劉桂華;楊康;張華;牛乾;游斌相;康含玉;黃占鰲 | 申請（專利權）人： | 西南科技大學 |
| 主分類號： | G06K9/62 | 分類號： | G06K9/62;G06K9/40;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194;G01N27/84 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 621010 四川省綿陽*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 熒光 智能 缺陷 識別 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于熒光磁粉的智能缺陷識別系統，該系統主要包括場景深度信息采集、磁痕圖像預處理、圖像分割、形態學處理和特征提取、裂紋識別這幾個部分。
2.根據權利要求1所述的基于熒光磁粉的智能缺陷識別系統，其特征在于，圖像分割過程融合支持向量機算法（SVM）與模糊C均值聚類算法（FCM）的彩色圖像分割方法優勢，支持向量機算法（SVM）提供的優秀分類情況，通過與模糊C均值聚類算法（FCM）結合的方法，在圖像處理后使用樸素貝葉斯分類器（NBC）來進行識別從而達到獲取優秀的識別圖像。
3.根據權利要求1所述的基于熒光磁粉的智能缺陷識別系統，其特征在于，在提取具體特征的選擇中，邊界長度、邊界直徑、曲率、區域面積、區域重心、以及邊界矩，以此六個特征來充分的表達具體的工件的情況，同時對后面的識別提供優質的信息來源。
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