[發(fā)明專利]一種基于長余輝納米材料的指紋檢測探針及其制備方法與在潛指紋檢測中的應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710146299.5 | 申請日： | 2017-03-13 |
| 公開（公告）號： | CN106957644B | 公開（公告）日： | 2019-03-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 袁荃;王杰;馬覃勤 | 申請（專利權(quán)）人： | 武漢大學(xué) |
| 主分類號： | C09K11/02 | 分類號： | C09K11/02;C09K11/66;A61B5/1172 |
| 代理公司： | 武漢科皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 常海濤 |
| 地址： | 430072 湖*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 余輝 納米 材料 指紋 檢測 探針 及其 制備 方法 中的 應(yīng)用 | ||
【權(quán)利要求書】：
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