[發明專利]用于集成電路設計的方法在審
| 申請號： | 201710146086.2 | 申請日： | 2017-03-13 |
| 公開（公告）號： | CN107315848A | 公開（公告）日： | 2017-11-03 |
| 發明（設計）人： | 姜慧如;蕭錚;黃章祐;陳瓀懿;蘇哿暐;林忠凱;張修狀;鄭敏祺 | 申請（專利權）人： | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京律誠同業知識產權代理有限公司11006 | 代理人： | 徐金國 |
| 地址： | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 集成電路設計 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于集成電路設計的方法，其特征在于，包含：
接收一空間相關性矩陣，其中該空間相關性矩陣中的各元素為不同坐標的一組后制造集成電路元件的多個特性值之間的一空間相關性；
從該空間相關性矩陣中導出一隨機數產生函數，其中該隨機數產生函數具有一坐標相關因數及一坐標獨立因數；
接收一集成電路設計布局，該集成電路設計布局具有一組預制造集成電路元件，所述預制造集成電路元件各者具有一坐標及一第一特性值；
對于所述預制造集成電路元件，使用各所述預制造集成電路元件的該坐標及該隨機數產生函數產生一隨機數；
對于所述預制造集成電路元件，將該隨機數應用至該第一特性值并導出一第二特性值；
在具有所述預制造集成電路元件的該第二特性值的所述預制造集成電路元件上運行一模擬；以及
基于該模擬的一結果修改該集成電路設計布局，
其中以下操作的至少一者是由一計算機進行：
導出該隨機數產生函數；
產生該隨機數；
導出該第二特性值；以及
運行該模擬。
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