[發明專利]觸控力檢測方法、觸控力檢測裝置、觸控面板及顯示裝置

有效

• 申請號: 201710144386.7
• 申請日: 2017-03-10
• 公開（公告）號: CN106919289B
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發明（設計）人: 曹學友
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 彭瑞欣;張天舒

1.一種觸控力檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1，獲得待檢測面板的觸控點數目N，N為大于或等于1的整數；

S2，任意選擇所述待檢測面板上的M個測試位置，M為大于或等于N的整數，并獲得各個所述測試位置的電容變化量；所述電容變化量為在觸摸所述待檢測面板時，其感應電極與參考電極之間的電容在該測試位置處的變化量；

S3，根據各個所述測試位置處的所述電容變化量，獲得各個所述測試位置的面板形變量；

S4，根據所述面板形變量與觸控力的對應關系計算獲得所述觸控點處的觸控力；

在所述步驟S4中，當N≥2時，取M≥2，通過求解下述聯立方程式獲得各個所述觸控點處的觸控力；

...

其中，w₁～w_M為第1個～第M個所述測試位置處的所述面板形變量；P_i為單獨在所述待檢測面板的第i個所述觸控點施加的觸控力，i＝1,2,...,N；f_i1～f_iM為P_i分別在第1個～第M個所述測試位置處的形變權重。

2.根據權利要求1所述的觸控力檢測方法，其特征在于，在所述步驟S3中，根據下述公式進行反推計算，獲得各個所述測試位置的面板形變量；

其中，ΔC_FT為電容變化量；ε為介電系數；A為所述感應電極與參考電極之間的單位面積；w為所述感應電極與參考電極之間的原始距離；Δw為面板形變量。

3.根據權利要求1所述的觸控力檢測方法，其特征在于，在完成所述步驟S1之后，且進行所述步驟S3之前，還包括以下步驟：

排除所述待檢測面板的N個觸控點的位置信息。

4.根據權利要求1所述的觸控力檢測方法，其特征在于，所述測試位置包括點或者具有預設面積的區域。

5.根據權利要求1所述的觸控力檢測方法，其特征在于，當N＝2，M＝2時，兩個所述觸控點的位置分別靠近所述待檢測面板的其中一對對角處，且相對于所述待檢測面板的中心對稱；

兩個所述測試位置分別靠近所述待檢測面板的其中另一對對角處；并且，兩個所述測試位置分別與所述待檢測面板的相互垂直的兩條中線之間的距離不等。

6.根據權利要求1所述的觸控力檢測方法，其特征在于，所述感應電極包括相互交錯的多條縱向電極線和多條橫向電極線，所述縱向電極線與所述橫向電極線不在同一平面內；在所述步驟S2中，基于整條所述縱向電極線或者橫向電極線上的電容，獲得所述測試位置的電容變化量。

7.根據權利要求1所述的觸控力檢測方法，其特征在于，所述感應電極包括相互交錯的多條縱向電極線和多條橫向電極線，所述縱向電極線與所述橫向電極線不再同一平面內；

在所述步驟S2中，基于與所述測試位置相對應的所述縱向電極線和所述橫向電極線上的電容，獲得該測試位置的電容變化量。

8.根據權利要求1所述的觸控力檢測方法，其特征在于，所述感應電極包括網格狀的電極線；

在所述步驟S2中，基于與所述測試位置相對應的所述網格狀的電極線上的電容，獲得該測試位置的電容變化量。