[發(fā)明專利]半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710142347.3 | 申請日: | 2017-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN108573908B | 公開(公告)日: | 2020-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 溫子瑛;王吉;王致凱 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫華瑛微電子技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/687 | 分類號: | H01L21/687 |
| 代理公司: | 無錫中瑞知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32259 | 代理人: | 倪歆晨 |
| 地址: | 214135 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 處理 微腔室 機(jī)械 支撐 裝置 | ||
1.半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,包括:第一支撐單元、可移動單元、第二支撐單元、第三支撐單元及多根支柱;其特征在于:
所述第一支撐單元包括:水平設(shè)置的第一支撐板,及固定設(shè)置在第一支撐板上方的支撐環(huán);
所述可移動單元通過所述第一支撐單元支撐,包括:
驅(qū)動裝置;
移動座:所述移動座呈圓柱狀,移動座的上部和下部分別設(shè)有環(huán)狀的上凹環(huán)及下凹環(huán),所述移動座的下凹環(huán)與所述支撐環(huán)互相可滑動地套合,形成一個套合空間,所述驅(qū)動裝置設(shè)置在所述套合空間內(nèi),且分別與所述移動座的下方以及第一支撐板的上方固定連接;所述移動座、支撐環(huán)、以及移動座的上凹環(huán)和下凹環(huán)的圓心同軸;
以及下腔室:所述下腔室設(shè)置在移動座的上凹環(huán)內(nèi);
所述第二支撐單元包括:水平設(shè)置的第二支撐板,所述第二支撐板與第一支撐板之間通過所述多根支柱固定連接;
及上腔室,所述上腔室通過開設(shè)在第二支撐板上的穿孔定位且由第二支撐板支撐,所述上腔室的位置與下腔室對應(yīng),兩者結(jié)構(gòu)上經(jīng)過合理設(shè)計,上腔室與下腔室接觸時形成處理半導(dǎo)體晶圓的微處理腔;
所述第三支撐單元經(jīng)結(jié)構(gòu)設(shè)計以施加壓力至所述上腔室以水平且良好地定位上腔室,包括:第三支撐板,所述第三支撐板通過所述多根支柱固定連接,且具有施加壓力至所述上腔室的多個螺釘、加強(qiáng)結(jié)構(gòu)或可移動零件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述第一支撐單元還包括多個第一支撐梁,所述第二支撐單元還包括多個第二支撐梁,所述第三支撐單元還包括多個第三支撐梁。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述支撐環(huán)通過所述多個第一支撐梁固定設(shè)置在第一支撐板上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述第一支撐板、第二支撐板、第三支撐板分別通過第一支撐梁、第二支撐梁、第三支撐梁與所述多根支柱固定連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置還設(shè)有外殼板,所述第一支撐梁和第三支撐梁對稱設(shè)有凹槽,使得外殼板能夠插入且固定于凹槽中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述移動座的上凹環(huán)的底部設(shè)有漏液槽。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述漏液槽中設(shè)有漏液檢測機(jī)構(gòu)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7之一所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述支撐環(huán)上表面設(shè)有環(huán)形防護(hù)槽,所述環(huán)形防護(hù)槽與移動座同軸,且環(huán)形防護(hù)槽的外徑大于移動座的外徑。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述移動座的下凹環(huán)的內(nèi)壁套合在支撐環(huán)上環(huán)形防護(hù)槽的內(nèi)徑壁外。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體基片處理微腔室機(jī)械支撐裝置,其特征在于:所述支撐環(huán)的內(nèi)壁套合在所述移動座的下凹環(huán)的外壁外側(cè),所述移動座的外壁還設(shè)有環(huán)形導(dǎo)流沿,所述導(dǎo)流沿高于所述支撐環(huán)的上表面;環(huán)形防護(hù)槽內(nèi)徑小于所述導(dǎo)流沿外徑,環(huán)形防護(hù)槽外徑大于所述導(dǎo)流沿外徑。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





