[發明專利]一種用于中子衍射的原位加熱裝置

在審

• 申請號: 201710136842.3
• 申請日: 2017-03-09
• 公開（公告）號: CN106706443A
• 公開（公告）日: 2017-05-24
• 發明（設計）人: 龐蓓蓓;孫光愛
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院核物理與化學研究所
• 主分類號: G01N3/18
• 分類號: G01N3/18;G01N3/02
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心51210
• 代理人: 翟長明,韓志英

1.一種用于中子衍射的原位加熱裝置，其特征在于：所述的原位加熱裝置包括固定部分、移動部分和高溫引伸計（3）；

所述的固定部分包括左側夾具（4）、右側夾具（5）、左側冷卻水套（6）和右側冷卻水套（7）；被測樣品的兩端加工有外螺紋，左側夾具（4）和右側夾具（5）的內側加工有與被測樣品的外螺紋相匹配的內螺紋；所述的左側夾具（4）和右側夾具（5）的外側加工有與外部的樣品支架或原位力學拉伸裝置相匹配的安裝螺紋；所述的左側冷卻水套（6）與左側夾具（4）配裝，右側冷卻水套（7）與右側夾具（5）配裝，左側冷卻水套（6）和右側冷卻水套（7）上安裝有冷卻水快接插頭；固定部分的連接關系為：被測樣品通過螺紋連接在左側夾具（4）和右側夾具（5）中間，左側冷卻水套（6）、右側冷卻水套（7）分別套裝在左側夾具（4）和右側夾具（5）的外側，通過螺紋將左側夾具（4）、右側夾具（5）分別固定到外部的樣品支架上或原位力學拉伸裝置的兩個加載端上，被測樣品懸空放置試驗區中；

所述的移動部分包括上加熱板（1）、下加熱板（2）、上方冷卻隔板（8）、下方冷卻隔板（9）和加熱板支架（10）；所述的加熱板支架（10）為╨型，╨型的水平部件為底座，╨型的豎直部件為固定架，固定架上有加熱板卡帶，上加熱板（1）和下加熱板（2）上有支撐架；所述的上方冷卻隔板（8）和下方冷卻隔板（9）安裝有冷卻水快接插頭；所述的下加熱板（2）上開設兩個引伸計測量孔；移動部分的連接關系為：上加熱板（1）和下加熱板（2）固定在固定架的卡帶上；上方冷卻隔板（8）和下方冷卻隔板（9）分別通過上加熱板（1）和下加熱板（2）的支撐架對稱安裝在上加熱板（1）的上方和下加熱板（2）的下方。

2.根據權利要求1所述的用于中子衍射的原位加熱裝置，其特征在于：所述的上加熱板（1）與下加熱板（2）均為尺寸相同的長方形板，靠近被測樣品的一端布置加熱絲，遠離樣品另一端布置保溫纖維材料。

3.根據權利要求1所述的用于中子衍射的原位加熱裝置，其特征在于：所述的上加熱板（1）鋪設的加熱絲間距L1與下加熱板（2）鋪設的加熱絲間距L2的比值符合：L1/ L2>1。

4.根據權利要求1所述的用于中子衍射的原位加熱裝置，其特征在于：所述的下加熱板（2）的引伸計測量孔為圓角矩形，圓角的直徑與矩形的寬尺寸相同，兩個引伸計測量孔之間的距離與高溫引伸計（3）的測量標距相同，引伸計測量孔的深度開設方向與加熱板（2）的上表面呈45度夾角。

5.根據權利要求1所述的用于中子衍射的原位加熱裝置，其特征在于：所述的加熱板支架（10）的固定架上安裝有卡帶，改變上加熱板（1）、下加熱板（2）在卡帶上的位置，直至上加熱板（1）靠近被測樣品的表面與被測樣品的距離和下加熱板（2）靠近被測樣品的表面與被測樣品的距離均為5mm。

6.根據權利要求1所述的用于中子衍射的原位加熱裝置，其特征在于：所述的高溫引伸計（3）的測量支腳為高溫陶瓷材料的圓柱棒，接觸樣品端為刀口狀，利用高溫引伸計（3）上帶彈簧的纖維繩栓固在樣品上。

7.根據權利要求1所述的用于中子衍射的原位加熱裝置，其特征在于：所述的為尺寸相同的長方形板；上方冷卻隔板（8）、下方冷卻隔板（9）的長、寬尺寸分別為上加熱板（1）長、寬尺寸的2倍。