[發明專利]總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目選擇方法

有效

• 申請號: 201710136635.8
• 申請日: 2017-03-09
• 公開（公告）號: CN106951955B
• 公開（公告）日: 2019-12-17
• 發明（設計）人: 蔡金燕;孟亞峰;王濤;韓春輝;李丹陽;孟繁卿
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍軍械工程學院
• 主分類號: G06N3/00
• 分類號: G06N3/00
• 代理公司: 13120 石家莊國為知識產權事務所
• 代理人: 陸林生

本發明適用于胚胎電子細胞陣列技術領域，提供了一種總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目選擇方法。該方法包括：分析總線胚胎電子細胞陣列的結構和工作特點，采用多態系統理論，建立總線胚胎電子細胞陣列的可靠性分析模型；以MOS管消耗數目為硬件資源消耗的衡量指標，建立總線胚胎電子細胞陣列的硬件資源消耗模型；針對電路的設計要求，利用所述可靠性分析模型和所述硬件資源消耗模型對陣列設計進行評估，確定總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞的數目。上述方法能夠合理地選擇陣列功能模塊內電子細胞的數目與空閑電子細胞數目，兼顧陣列的可靠性和硬件資源消耗。

技術領域

本發明屬于胚胎電子細胞陣列技術領域，尤其涉及一種總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目選擇方法。

背景技術

隨著航空航天、深海探測等領域的不斷發展以及電磁環境的日益復雜，對電子裝備的可靠性要求越來越高，傳統的基于部件冗余的容錯設計存在硬件資源消耗大、冗余備份單元有限等不足。基于此，胚胎電子細胞陣列技術應運而生，胚胎電子細胞陣列是一種基于多細胞生物生長發育過程而設計的一種新型硬件結構，具有類似于生物的自組織、自檢測和自修復等能力。

然而目前關于胚胎電子細胞陣列的研究主要在陣列結構設計、自修復方法、故障檢測方法及其應用等方面進行，缺少關于胚胎電子細胞陣列內胚胎電子細胞數目選擇方法的研究。而胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目選擇是工程實際應用過程必須要考慮的問題，電子細胞數目的選擇與陣列的硬件資源消耗和陣列可靠性都直接相關，更多的電子細胞可以帶來更高的陣列可靠性，但同時也將帶來更大的硬件資源消耗。而現有胚胎電子細胞陣列內部電子細胞數目的選擇大多憑借經驗，缺乏理論支持和指導，不能很好平衡陣列硬件資源消耗和可靠性的關系。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目選擇方法，以解決現有胚胎電子細胞陣列內部的電子細胞數目的選擇缺乏理論支持和指導，不能很好地平衡陣列硬件資源消耗和可靠性的關系的問題。

本發明實施例提供了一種總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目選擇方法，包括：

分析總線胚胎電子細胞陣列的結構和工作特點，采用多態系統理論，建立總線胚胎電子細胞陣列的可靠性分析模型；

以MOS管消耗數目為硬件資源消耗的衡量指標，建立總線胚胎電子細胞陣列的硬件資源消耗模型；

根據所述可靠性分析模型和所述硬件資源消耗模型，結合電路設計要求，合理確定總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目。

本發明實施例相對于現有技術所具有的有益效果：本發明實施例分析總線胚胎電子細胞陣列的結構和工作特點，采用多態系統理論，建立總線胚胎電子細胞陣列的可靠性分析模型；以MOS管消耗數目為硬件資源消耗的衡量指標，建立總線胚胎電子細胞陣列的硬件資源消耗模型；然后根據所述可靠性分析模型和所述硬件資源消耗模型，結合電路的設計要求，確定總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目，能夠合理地選擇陣列功能模塊內細胞的數目，兼顧陣列的可靠性和硬件資源消耗，從而解決現有技術中胚胎電子細胞陣列內部的電子細胞數目的選擇缺乏理論支持和指導，不能很好地平衡陣列硬件資源消耗和可靠性的關系的問題。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明實施例提供的總線胚胎電子細胞陣列中電子細胞數目選擇方法的流程圖；

圖2是本發明實施例提供的循環移除故障自修復策略的流程；

圖3是本發明實施例提供的單細胞故障循環移除自修復過程；