[發明專利]一種用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線

在審

• 申請號: 201710135626.7
• 申請日: 2017-03-08
• 公開（公告）號: CN106910980A
• 公開（公告）日: 2017-06-30
• 發明（設計）人: 項實;吳怡之;葉聲
• 申請（專利權）人: 東華大學
• 主分類號: H01Q1/22
• 分類號: H01Q1/22;H01Q1/38;H01Q1/50;H01Q19/10;G01V3/08
• 代理公司: 上海泰能知識產權代理事務所31233
• 代理人: 宋纓,錢文斌

1.一種用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，包括多層次結構天線，其特征在于，所述多層次結構天線共有三層，每層之間留有空隙，其中，第一層為導向層(1)、第二層為介質層(2)、第三層為反射層(3)；所述介質層(2)正面貼有金屬貼片(4)，背面貼有接地貼片(5)。

2.根據權利要求1所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述導向層(1)為金屬片。

3.根據權利要求2所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述金屬片為圓形金屬片，所述金屬片的半徑為13.5mm，厚度為0.5mm。

4.根據權利要求2所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述導向層(1)與介質層(2)之間設置有金屬柱(6)。

5.根據權利要求4所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述金屬柱(6)的高度為6.5mm，直徑為0.6mm。

6.根據權利要求1所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述介質層(2)采用的介質基板，所述介質基板的材料為FR4，相對介電常數為4.4，介電損耗為0.02，所述介質基板的半徑為19mm，高度為1mm。

7.根據權利要求1所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述反射層(3)為金屬環。

8.根據權利要求7所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述金屬環為金屬圓環，內徑為13.5mm，外徑為19mm。

9.根據權利要求1所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述金屬貼片(4)由一個基于笛卡爾圓定理的圓形分形結構與饋電微帶線組成，所述接地貼片(5)由圓形與多邊形縫隙組成。

10.根據權利要求1所述的用于微波檢測系統的小型高增益定向寬帶天線，其特征在于，所述導向層(1)與介質層(2)之間的距離為6.5mm，所述介質層(2)與反射層(3)之間的距離為5.5mm。