[發明專利]一種鐵電材料電滯回線的光學測量方法

有效

• 申請號: 201710134572.2
• 申請日: 2017-03-08
• 公開（公告）號: CN106950444B
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: 呂且妮;李弼華
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 李素蘭

1.一種鐵電材料電滯回線的光學測量方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

步驟1、搭建正交偏振成像系統，將鐵電材料放置于正交偏振成像系統的物面處，控制鐵電材料恒溫，并使其處于鐵電態；

步驟2、利用電場加載系統給鐵電材料加載電場，當外加電場大于材料閾值電場時，新疇產生，疇壁開始運動，逐漸增大電場到鐵電體極化成單疇態；隨后卸載所加電場—加載與此反向的電場—卸載所加的反向電場—加載與此反方向的電場，循環一個周期，完成電滯回線測試，記錄不同過程不同電場下的鐵電疇結構；

步驟3、分析步驟2所記錄的疇結構，將加載電場單疇化時疇壁側向移動方向作為鐵電疇位移方向，沿該方向提取新疇的長度矢量將作為該電場下鐵電疇的位移；

步驟4、對步驟2所記錄的疇結構，從新疇產生處作為初始位置，提取與新疇相鄰電場下疇壁側向移動的相對位移則該電場下鐵電疇的位移為再以該電場下的疇作為初始位置，提取與其相鄰電場下疇壁側向移動的相對位移則其相鄰電場下鐵電疇的位移為即依此方法，提取出彼此相鄰電場之間的疇壁側向移動的相對位移則可得到任一電場下鐵電疇的位移為即式中n＝1,2,...，分別為相鄰兩電場下鐵電疇的位移；當疇壁側向移動方向與鐵電疇位移方向相同時，值為正，與鐵電疇位移方向相反時，值為負；

步驟5、將步驟4得到的數據描點繪圖，得到鐵電疇位移與外加電場之間的曲線；根據偶極子理論，該曲線即為鐵電材料的電滯回線。

2.如權利要求1所述的一種鐵電材料電滯回線的光學測量方法，其特征在于，改變鐵電材料測試溫度，獲得不同溫度下的曲線。

3.如權利要求1所述的一種鐵電材料電滯回線的光學測量方法，其特征在于，沿所述步驟3中方向上的不同線，得到的鐵電疇位移是不同的，但曲線形狀是相同的。

4.如權利要求1所述的一種鐵電材料電滯回線的光學測量方法，其特征在于，所述步驟3、4中所述鐵電疇的疇壁移動用其疇壁移動的面積表示，得到其曲線。