[發明專利]一種磁共振成像系統質量控制多參數模體

在審

• 申請號: 201710134557.8
• 申請日: 2017-03-08
• 公開（公告）號: CN108572341A
• 公開（公告）日: 2018-09-25
• 發明（設計）人: 劉同柱;沈愛宗;房坤;谷瑋;陳玉俊
• 申請（專利權）人: 安徽省立醫院
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 王華英

1.一種磁共振成像系統質量控制多參數模體，其特征在于，包括盒體和多個測試塊；所述測試塊包括測試層和用于堆疊和定位所述測試塊的支撐壁，多個所述支撐壁依次堆疊設置在所述盒體中，所述測試層設置在所述支撐壁中；

多個所述測試層包括層厚測試層、圖像幾何畸變測試層、空間分辨力測試層、低對比分辨力測試層和圖像均勻性及信噪比測試層；或者多個所述測試層包括所述層厚測試層、所述圖像幾何畸變測試層、所述空間分辨力測試層、所述低對比分辨力測試層和所述圖像均勻性及信噪比測試層中的任意兩種或者任意三種或任意四種。

2.根據權利要求1所述的磁共振成像系統質量控制多參數模體，其特征在于，所述盒體包括上密封蓋、下密封蓋和側壁，所述上密封蓋和所述側壁的一端可拆卸連接，所述下密封蓋和所述側壁的另一端固定相連，所述上密封蓋上設有用于通液和排氣的通孔；所述上密封蓋上固定設置有兩個灌液口和裝配尼龍螺絲的螺絲孔，所述上密封蓋與所述側壁通過密封圈密封裝配，所述尼龍螺絲裝配于所述螺絲孔并抵壓于所述密封圈使得所述上密封蓋、所述密封圈和所述側壁密封裝配，所述盒體內設有限位的凸起，多個所述測試塊上設有與所述凸起相對應的限位凹槽。

3.根據權利要求1所述的磁共振成像系統質量控制多參數模體，其特征在于，所述圖像幾何畸變測試層設置有網格盤體、第一網格孔和與所述第一網格孔形狀相同第二網格孔，所述第一網格孔和所述第二網格孔設置在所述網格盤體中形成測試網格，所述測試網格按規則形狀分布，所述第二網格孔設置在所述測試網格的預設位置中，所述第二網格孔的尺寸大于所述第一網格孔。

4.根據權利要求1所述的磁共振成像系統質量控制多參數模體，其特征在于，所述層厚測試層包括層厚盤體和帶有槽孔的“回”字形結構的主體；所述主體固定設置于所述層厚盤體，且與所述層厚盤體的中心重合；所述主體包括四個透明側壁，所述透明側壁設置于所述槽孔和所述層厚盤體之間，且和所述層厚盤體相垂直；所述層厚盤體中心設有與所述槽孔相匹配的橫截面為正方形的通孔，每個所述透明側壁包括一自其左上角到右下角的斜槽，所述斜槽內填充有非磁性的金屬薄片。

5.根據權利要求4所述的磁共振成像系統質量控制多參數模體，其特征在于，所述斜面與水平面之間的夾角的范圍為14—16度。

6.根據權利要求4或5任一項所述的磁共振成像系統質量控制多參數模體，其特征在于，所述層厚盤體還包括四個設置在所述主體外側的圓形通孔，所述圓形通孔分別與所述主體的所述透明側壁相對應。

7.根據權利要求1所述的磁共振成像系統質量控制多參數模體，其特征在于，所述低對比分辨力測試層包括盤體、三組圓孔組和三組圓柱組；三組所述圓孔組和三組所述圓柱組均呈圓形分布，每組所述圓孔組由多個個直徑不同的圓孔組成，每組圓柱組由多個直徑與深度都不同的圓柱組成，所述圓孔組和所述圓柱組分別設置在所述盤體的兩側，且所述圓孔組設置在所述圓柱組和所述支撐壁之間，所述圓孔組的開口開設在所述盤體上。

8.根據權利要求7所述的磁共振成像系統質量控制多參數模體，其特征在于，所述圓孔按直徑大小由小到大逆時針排列，所述圓柱按直徑和高度的大小由小到大逆時針排列；所述圓柱和所述圓孔一一對應，所述圓柱與對應的所述圓孔的直徑相等。