[發明專利]一種檢驗PCB中DIP器件位置信息的方法在審
| 申請號： | 201710131622.1 | 申請日： | 2017-03-07 |
| 公開（公告）號： | CN106817843A | 公開（公告）日： | 2017-06-09 |
| 發明（設計）人： | 高新迪;劉永哲;翟西斌 | 申請（專利權）人： | 濟南浪潮高新科技投資發展有限公司 |
| 主分類號： | H05K3/00 | 分類號： | H05K3/00 |
| 代理公司： | 濟南信達專利事務所有限公司37100 | 代理人： | 孫晶偉 |
| 地址： | 250100 山東省濟南市*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢驗 pcb dip 器件 位置 信息 方法 | ||
1.一種檢驗PCB中DIP器件位置信息的方法，其特征是
測量DIP元器件本體與PCB邊緣的距離，得到測量距離數據，
比較測量的距離數據與安全距離的大小，當測量的距離數據大于安全距離時，DIP元器件本體的位置信息正常，否則判定DIP元器件本體的位置信息異常。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征是所述從DIP元器件本體的中心位置測量與PCB邊緣的距離，得到測量距離數據。
3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征是根據實際情況，預先定義安全距離的大小。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征是使用Candence軟件的Display-Measure命令測量DIP元器件本體與PCB邊緣的距離，得到測量距離數據。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征是
具體步驟為：
打開Candence軟件選擇為Display-Element ，逐一點擊所要檢測的DIP器件，顯示出器件的中心坐標，點擊Display-Measure 測量DIP元器件本體與PCB邊緣的距離，得到測量距離數據；
自動檢測DIP器件，比較測量距離數據：
當測量的距離數據大于安全距離時，DIP元器件本體的位置信息正常，否則判定DIP元器件本體的位置信息異常。
6.一種檢驗PCB中DIP器件位置信息的系統，其特征是
包括測量模塊、比較驗證模塊，
測量模塊用于測量DIP元器件本體與PCB邊緣的距離，得到測量距離數據，
比較驗證模塊用于比較測量的距離數據與安全距離的大小，當測量的距離數據大于安全距離時，DIP元器件本體的位置信息正常，否則判定DIP元器件本體的位置信息異常。
7.根據權利要求6所述的系統，其特征是所述測量模塊從DIP元器件本體的中心位置測量與PCB邊緣的距離，得到測量距離數據。
8.根據權利要求6或7所述的系統，其特征是所述比較驗證模塊根據實際情況，預先定義安全距離的大小。
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