[發明專利]一種天線測試基板、耦合測試系統以及耦合測試方法

有效

• 申請號: 201710128378.3
• 申請日: 2017-03-06
• 公開（公告）號: CN107046428B
• 公開（公告）日: 2021-01-19
• 發明（設計）人: 徐逢春;張力
• 申請（專利權）人: 上海為準電子科技有限公司
• 主分類號: H04B1/00
• 分類號: H04B1/00;H04M1/24
• 代理公司: 北京睿博行遠知識產權代理有限公司 11297
• 代理人: 龔家驊

本發明公開了一種天線測試基板，該天線測試基板設置有測試天線組，其中測試天線組由射頻開關以及多個頻段各不相同的測試天線組成，多個測試天線分別與所述射頻開關連接。通過采用該天線測試基板，可以針對不同類型、不同型號的無線測試終端進行靈活配置的耦合測試，具備高增益、高靈敏度和低成本的特點，同時避免模具的浪費，降低人工勞動的復雜性。

技術領域

本發明涉及通信技術領域，特別涉及一種天線測試基板。本發明同時還涉及一種耦合測試系統以及耦合測試方法。

背景技術

在手機的生產測試過程中，廠家需要對手機的天線進行射頻性能耦合測試。由于當前的智能手機同時包含多種通信模式(例如2G，3G，4G，

BLUETOOTH,WiFi等)，這些通信模式覆蓋從400MHz到6GHz的非常寬的頻帶。因此在手機中需要針對不同頻段的通信模式分別設置與之對應的頻段的高增益天線。這些天線在手機中的位置分布根據不同品牌及不同型號又各不相同，因此在手機生產測試中，需要對這些不同的天線分別進行射頻性能耦合測試。

現有技術在對手機的天線進行耦合測試時，對于每一種型號的被測手機均需要制作一種與這種被測手機相對應的耦合天線測試基板。在此耦合天線測試基板上，設置有匹配不同模式頻段的多個高增益射頻測試天線，且這些測試天線的位置和方向需要與被測終端相對應。測試中，需要使用不同通信模式的信號對手機的各個功能天線進行分別測試。此外，另一種測試方案是直接在屏蔽盒內的不同位置，設置多個不同方向的全頻段測試天線，用于適配不同型號的被測終端天線。

然而，發明人在實現本發明的過程中發現，上文所述的第一種測試方法及裝置在對不同類型、型號的終端裝置的天線進行測試時，需要按照不同被測終端的類型、型號來生產眾多相對應的耦合天線測試基板，同時在測試中，需要根據不同型號的終端更換對應的測試基板。甚至，對于某些天線布置復雜的被測終端，需要配置多塊不同頻段天線的測試基板，才能完成全功能的天線耦合測試。由此不僅會造成資源的浪費，也造成了人工勞動的復雜性。而上文所述的第二種測試方法雖然避免了針對每一種被測終端制作對應測試基板的弊端，但是其需要在屏蔽盒內布置多個全頻段測試天線。此種天線不僅成本高昂，而且相對于一般的窄頻段天線，其增益較低。同時由于布置位置隨機，很難與被測終端的各個功能天線同時達成最佳耦合性能，因此會造成測試通過率降低的風險。

由此可見，如何使測試基板能夠針對不同類型、不同型號的無線終端進行靈活的配置，從而避免模具的浪費以及降低人工勞動的復雜性，達到提高測試性能以及降低成本的目的，成為本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發明內容

本發明提供了一種天線測試基板，該天線測試基板設置有測試天線組，其中：

所述測試天線組由射頻開關以及多個頻段各不相同的測試天線組成；

所述多個測試天線分別與所述射頻開關連接。

優選地，所述多個測試天線沿所述天線測試基板均勻分布；

各所述測試天線組以被測終端在所述天線測試基板的對應位置為中心，呈中心對稱設置。

優選地，還包括射頻合路器，其中：

所述射頻合路器用于增加相同頻段天線的耦合信號增益，并與各所述測試天線組的射頻開關連接。

優選地，還包括單片機，其中：

所述單片機用于通過所述天線測試基板的USB接口從上位機接收以及處理控制指令，并通過PCB控制信號線與所述天線測試基板的所有射頻開關連接。

相應的，本申請還公開了一種耦合測試系統，包含待測終端、屏蔽盒、測試儀表、上位機以及如上述任一項所述的天線測試基板，其中：

所述屏蔽盒的內壁和盒口接觸部分均設有吸波材料，且具有射頻接口以及數據供電接口；